Оптико-электронные измерения : Сб. ст. / В.И. Андреев, С.И. Аневский, Л.В. Березина [и др.]; Ред. В.С. Иванов, 2005. - 711 с. - Текст : непосредственный.
Аневский С.И. Обеспечение единства измерений спектрорадиометрических величин в области вакуумного и ближнего ультрафиолета на основе комплекса эталонных источников излучения : автореф. дис. .. д-ра техн. наук: 05.11.15 / С. И. Аневский, 2003. - 48 с. - Текст : непосредственный.
Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии / О. Д. Анашина [и др.]; под ред. В. Н. Крутикова, 2011. - 590 с. - Текст : электронный.