Ануфриев Ю.В. Исследование стадии включения элементов энергозависимой памяти на фазовых переходах : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / Ю. В. Ануфриев, 2009. - 20 с. - Текст : непосредственный.
Применение Dual-beam технологии для создания прототипа матрицы энергонезависимой памяти на фазовых переходах / Ю. В. Ануфриев, Е. В. Зенова, П. К. Кондратьев [и др.]. - Текст : непосредственный // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2010 (МЭС - 2010) : сб. тр. IV Всерос. науч.-техн. конф., 4-8 окт. 2010 г., Москва. - М. - 2010. - с. 658-661
Структурная диагностика и вещественный анализ современных наносистем с применением аналитического оборудования на основе прецизионной электронно-ионной сканирующей микроскопии / А. М. Тагаченков, Е. В. Зенова, Ю. В. Ануфриев, В. Ю. Дубровинский. - Текст : непосредственный // Нанотехнологии - производству 2012 : тр. VIII науч.-практ. конф., 4-6 апр. 2012 г., Фрязино. - М. - 2012. - с. 142-150
Приложение
для Android