Полное описание
> International conference on wafer scale integration (1992 ; San Francisco,Ca). International conference on wafer scale integration,Jan.22-24,1992,San Francisco(Ca) : proc. / ed.: V. K. Jain, P. W. Wyatt. - Los Alamitos, Ca [etc.] : IEEE computer soc. press, 1992. - XII,363 p. p. : ill. - (IEEE publications / Inst.of electrical and electronics engineers, ISSN 0149-144X ; 92CH3088-2). - ISBN 0-8186-2482-5.
Библиогр.в конце статей.Указ.:с.363
ГРНТИ | УДК | |
47.33.31 | 621.3.049.77(063) | |
47.01.13 |
Рубрики:
Интегральные схемы -- Съезды и конференции
Доп. точки доступа:
Jain, V.K.\ed.\
Wyatt, P.W.\ed.\
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : г. Москва, ул. 3-я Хорошёвская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/6736/92CH3088-2)>
Шифр в сводном ЭК: fa731dcabbd687c26fc9a7635c91be4c
Заказ фрагмента документа ₽