Полное описание

Усеинов, А. С. Измерение модуля упругости высокотемпературных полупроводниковых материалов и других твердых тел методом сканирующей силовой микроскопии : специальность 01.04.10 "Физика полупроводников" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. С. Усеинов. - М., 2004. - 25 с. : ил. - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с. 25(5 назв.)

ГРНТИ	УДК
47.09.29	621.315.592.08(043)
	620.172.225(043)

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар04-9255)

Шифр в сводном ЭК: f8c36b198eccc9213601c10bb768f613

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽