Полное описание

A new quantitative anomalous X-ray scattering method for the structural analysis of amorphous thin films / E.Matsubara,Y.Waseda,M.Mitera,T.Masumoto. - Sendai : [s. n.], 1989. - 704 p. : ill. - (The science report / Research institute for electric and magnetic materials(Sedai) ; n239). - Текст : непосредственный.
Библиогр. в конце кн. Repr. from materials trans. of the Japan inst. of metals Vol.29(1989) N 9,756-766

ГРНТИ	УДК
29.19.16	539.216.2:548.73

Рубрики:
Аморфные пленки

Доп. точки доступа:
Matsubara, E.
Waseda, Y.
Mitera, M.
Masumoto, T.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/11911/239)

Шифр в сводном ЭК: f44858d596c0dc8f55946529485764a6

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽