Полное описание

Atom probe microscopy / B. Gault [и др.]. - New York, NY [etc.] : Springer, 2012. - on-line. - (Springer series in materials science , ISSN 0933-033X ; vol. 160). - URL: http://link.springer.com/book/10.1007/978-1-4614-3436-8. - Загл. с экрана. - ISBN 978-1-4614-3436-8. - Текст : электронный.

ГРНТИ	УДК
29.35.43	620.186

Кл.слова (ненормированные): АТОМНАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
Доп. точки доступа:
Gault, B.
Moody, M. P.
Cairney, J. M.
Ringer, S. P.

http://link.springer.com/book/10.1007/978-1-4614-3436-8

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): ?-443654987)

Шифр в сводном ЭК: f1a6ee74f83ce930d8d00d1663549f70

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽

Просмотр издания