Полное описание

Сысоев, Е. В. Измерение микро- и нанорельефа поверхности методами низкокогерентной интерферометрии : автореф. дис. ... канд. техн. наук: 01.04.05 / Е. В. Сысоев. - 2010. - 19 с. : ил. - Библиогр.: с. 18-19 (9 назв.). - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
59.41.29	681.787(043)

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар10-18018)

Шифр в сводном ЭК: a36eddbd7d53738624e66f6e5c42a48c

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽