Полное описание

Чичерская, А. Л. Определение химического состава и толщины гальванических покрытий методом атомно-эмиссионной спектроскопии с тлеющим разрядом постоянного тока : автореф. дис. ... канд. хим. наук: 02.00.02 / А. Л. Чичерская. - 2016. - 24 с. : ил. - Библиогр.: с. 23-24. - 100 экз. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
55.22.19	621.357.7.08(043)

Кл.слова (ненормированные): ГАЛЬВАНИЧЕСКИЕ ПОКРЫТИЯ -- ГРАДУИРОВОЧНЫЕ ОБРАЗЦЫ -- ПОСЛОЙНЫЙ ЭЛЕМЕНТНЫЙ АНАЛИЗ
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар16-7454)

Шифр в сводном ЭК: 7fc73509f0ab950a49fbe442fe0863a4

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽