Полное описание
> Боуэн, Д. К. Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография : пер.с англ. / Д.К.Боуэн,Б.К.Таннер;Отв.ред.И.Л.Шульпина. - СПб. : Наука, 2002. - 274 с. : ил. - Пер. изд. : High resolution X-ray diffractometry and topography / D. K. Bowen, B. K. Tanner. - S.l., 1998. - 700 экз. - ISBN 5-02-024963-7. - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с. 269-270 (51 назв.). Предм. указ.: с. 271-274
ГРНТИ | УДК | |
47.09 | 621.38.002.3 | |
47.01.77 |
Рубрики:
Электронные материалы -- Методы исследования
Доп. точки доступа:
Таннер, Б.К.
Bowen, D. K.
Tanner, B. K.
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ж2-02/28875)>
Шифр в сводном ЭК: 77a806415ccaa79c43781df1dc7447b8
Заказ фрагмента документа ₽