Полное описание

Вроньски, В. Анализ радиационных повреждений электронных схем при раздельном облучении их компонентов сколлимированным пучком заряженных частиц / В.Вроньски,А.Ю.Дидык. - Дубна : [б. и.], 1994. - 4 c. : ил. - (Препринт / Объединенный ин-т ядерных исследований(Дубна) ; Р14-94-355). - 300 экз. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
47.41	621.38.061:539.16(04)

Доп. точки доступа:
Дидык, А.Ю.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Н/2509/Р14-94-355)

Шифр в сводном ЭК: 64cfaaf380d3ecae60b6ab37adc7f097

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽