Полное описание
> Tehranipoor, M. Nanometer technology designs high-quality delay tests / M. Tehranipoor, N. Ahmed ; SpringerLink (Online service). - Boston, Ma : Springer, 2008. - on-line. - URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-75728-5. - ISBN 978-0-387-75728-5. - Текст : электронный.
ГРНТИ | УДК | |
47.13.81 | 621.3.049.771.14:658.562 |
Кл.слова (ненормированные): БОЛЬШИЕ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ -- ТЕХНИЧЕСКИЙ КОНТРОЛЬ
Доп. точки доступа:
Ahmed, N.
SpringerLink (Online service)
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-75728-5
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): 621.3.049.771.14:-863141)>
Шифр в сводном ЭК: 63532a5acee7c3c372dad63e1eb6fead
Просмотр издания