Полное описание
> Hong, D. Efficient test methodologies for high-speed serial links / D. Hong, K. Cheng ; SpringerLink (Online service). - Dordrecht : Springer, 2010. - on-line. - (Lecture notes in electrical engineering ; 51). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-3443-4. - ISBN 978-90-481-3443-4. - Текст : электронный.
Рубрики:
Engineering
Computer science
Systems engineering
Engineering
Circuits and systems
Register-Transfer-Level implementation
Доп. точки доступа:
Cheng, K.
SpringerLink (Online service)
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-3443-4
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): -830745)>
Шифр в сводном ЭК: 597f872bcf701c27f954ada7f907ba6a
Просмотр издания