Полное описание
>
Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии / О. Д. Анашина [и др.]; под ред. В. Н. Крутикова. - М. : Логос, 2011 (Чебоксары). - 590 с. : ил. - Авт. указ. на обороте тит. л. - Библиогр. в конце разд. - 1000 экз. - ISBN 978-5-98704-613-5. - Текст : электронный.Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ГРНТИ | УДК | |
90.03 | 620.3:006.91 | |
ББК | ||
30.10 |
Рубрики:
Нанотехнологии -- Метрологическое обеспечение
Кл.слова (ненормированные): МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ -- МЕТРОЛОГИЯ -- НАНОИНДУСТРИЯ -- НАНОТЕХНОЛОГИЯ
Аннотация: Обеспечение единства измерений в РФ и в сфере нанотехнологий, наноматериалов и продукции наноиндустрии. Методы и средства метрологического обеспечения исследований нанотехнологий и оценки соответствия продукции наноиндустрии. Прикладные вопросы метрологического обеспечения в сфере нанотехнологий.
Доп. точки доступа:
Анашина, О.Д.
Андрюшечкин, С.Е.
Аневский, С.И.
Бражников, В.В.
Булыгин, Ф.В.
Головань, Л. А.
Горшкова, Т. Б.
Гусев, А. С.
Демин, А. В.
Заботнов, С. В.
Золотаревский, С. Ю.
Золотаревский, Ю. М.
Иванов, В. С.
Ильин, А. П.
Качак, В. В.
Кашкаров, П. К.
Клековкин, И. В.
Кононогов, С. В.
Коршунов, А. В.
Крутиков, В. Н.
Котюк, А. Ф.
Лахов, В. М.
Левин, А. Д.
Левин, Г. Г.
Лысенко, В. Г.
Лясковский, В. Л.
Мазуренко, С. Н.
Минаева, О. А.
Минаев, Р. В.
Морозова, С. П.
Новиков, Н. Ю.
Окрепилов, В. В.
Панкина, Г. В.
Панов, В. И.
Рукин, Е. М.
Савченко, А. Г.
Саприцкий, В. И.
Тодуа, П. А.
Толбанова, Л. О.
Федянин, А. А.
Хлевной, Б. Б.
Широков, С. С.
Шувалов, Г. В.
Элькин, Г. И.
Крутиков, В.Н.\ред.\
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д9-11/84298)
Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : 143405, Московская область, г. Красногорск, ш. Ильинское, д. 1А, помещ. 17,6/ком. 5 (Шифр в БД-источнике (IPRBOOKS): 33401)>
Шифр в сводном ЭК: 52af6b432c4c95c59b571c35d474a687
Заказ фрагмента документа ₽
Просмотр издания ЭБС IPR SMART