Полное описание
>
Афонский, А. А. Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике / А. А. Афонский, В. П. Дьяконов. - 1. - М. : ДМК Пресс, 2011 (Можайск). - 687 с. : ил. - Библиогр.: с. 679-687. - 300 экз. - ISBN 978-5-94074-626-3. - Текст : непосредственный.Содержание: >
ГРНТИ | УДК | |
90.27.34 | 621.317.3 | |
81.13.30 | 620.3 | |
47.33.37 | 621.3.049.76 |
Рубрики:
Электрические измерения
Нанотехнологии
Микроэлектроника
Аннотация: Рассмотрены современные электро- и радиоизмерения и измерительные приборы, применяемые в научных исследованиях, тестировании и испытании устройств и систем микроэлектроники и нанотехнологий.
Доп. точки доступа:
Дьяконов, В.П.
http://znanium.com/catalog/document/?pid=406873&id=36228
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д9-11/75699)>
Шифр в сводном ЭК: 41357dbb677905588a0ce00c25db978b
Заказ фрагмента документа ₽
Просмотр издания ЭБС ZNANIUM