Полное описание
> Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении / Ред. А. Шварц ; под ред. А. Шварца др.; пер. с англ. С. А. Иванова. - М. : Техносфера, 2014. - 559 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр. в конце глав. - 1500 экз. - ISBN 978-5-94836-385-1. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ | УДК | |
81.09 | 620.22 | |
29.35.43 | 537.533.35.71 |
Рубрики:
Материалы -- Микроскопический метод исследования
Аннотация: Представлены материалы, полезные как для общего понимания принципа ДОЭ-анализа, истории его создания и развития, так и практическая информация по исследованию процессов в материалах при сильных пластических деформациях (равноканальное угловое прессование), сварке трением с перемешиванием, а также для понимания трехмерного анализа границ раздела методом комбинации послойного травления материала с помощью фокусированного ионного пучка и исследования поверхности - каждого слоя методом ДОЭ с последующей трехмерной реконструкцией набора двумерных данных ДОЭ.
Доп. точки доступа:
Шварц, А.\ред.\
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ж2-14/57200)>
Шифр в сводном ЭК: 0a5f35cc3d9af328bcb12f6f48cb8a2a
Заказ фрагмента документа ₽