Бушуев В.А. Физические принципы рентгенодифрактометрического определения параметров реальной структуры многослойных эпитаксиальных пленок / В.А.Бушуев,Р.Н.Кютт,Ю.П.Хапачев;Под ред.Ю.П.Хапачева, 1996. - 280 c. - Текст : непосредственный.
Кютт Р.Н. Рентгеновская дифрактометрия реальной структуры монокристаллов и эпитаксиальных слоев на основе двумерного анализа интенсивности : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук:01.04.07 / Р. Н. Кютт, 1995. - 39 с. - Текст : непосредственный.