Полное описание

VLSI test symposium (12 ; 1994 ; New York). Papers presented at the 12th IEEE VLSI test symposium,1994 / VLSI test symposium (12 ; 1994 ; New York) ; Ed.: W. Maly, Y. Zorian. - New York : [s. n.], 1995. - 529-649 p. p. : ill. - (IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, ISSN 0278-0070 ; vol.14,N 5,1995). - Текст : непосредственный.
Библиогр.в конце статей

ГРНТИ	УДК
47.33.31	621.3.049.771.14.001.4(063)

Рубрики:
Интегральные схемы большие -- Испытание -- Съезды и конференции

Доп. точки доступа:
Maly, W.\ed.\
Zorian, Y.\ed.\

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): W243/Vol.14,N 5,1995)

Шифр в сводном ЭК: 0fb4be43ebf23782e4ab182e5980a64b

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽