• ВХОД

    •  

    Полное описание

    International conference on wafer scale integration (1992 ; San Francisco,Ca). International conference on wafer scale integration,Jan.22-24,1992,San Francisco(Ca) : proc. / ed.: V. K. Jain, P. W. Wyatt. - Los Alamitos, Ca [etc.] : IEEE computer soc. press, 1992. - XII,363 p. p. : ill. - (IEEE publications / Inst.of electrical and electronics engineers, ISSN 0149-144X ; 92CH3088-2). - ISBN 0-8186-2482-5.
    Библиогр.в конце статей.Указ.:с.363

    ГРНТИ УДК
    47.33.31621.3.049.77(063)
    47.01.13

    Рубрики:
    Интегральные схемы -- Съезды и конференции

    Доп. точки доступа:
    Jain, V.K.\ed.\
    Wyatt, P.W.\ed.\

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : г. Москва, ул. 3-я Хорошёвская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/6736/92CH3088-2)

    Шифр в сводном ЭК: fa731dcabbd687c26fc9a7635c91be4c



    Заказ фрагмента документа ₽