Полное описание

Untersuchung kommerzieller Halbleiter-Dioden zur Hochdosisleistungs- Messung / L. Breitenhuber, K. Duftschmid, P. Kindl. - Seibersdorf : [s. n.], 1992. - 13 S. - (OEFZS Berichte / OEFZS, ISSN 0253-5270 ; 4663). - Текст : непосредственный.
Рез.англ.Библиогр.:с.13

ГРНТИ	УДК
59.43.31	612.014.482:539.1.07

Рубрики:
Дозиметры

Кл.слова (ненормированные): ДОЗИМЕТР -- ДОЗИМЕТР
Доп. точки доступа:
Breitenhuber, L.
Duftschmid, K.
Kindl, P.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/13036/4663)

Шифр в сводном ЭК: ec4159095b564b7f2846fa1c70c005ff

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽