• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Stanisavljevic, M. Reliability of nanoscale circuits and systems : methodologies and circuit architectures / M. Stanisavljevic, A. Schmid, Y. Leblebici. - Berlin [etc.] : Springer, 2011. - on-line. - URL: http://www.springer.com/engineering/circuits+%26+systems/book/978-1-4419-6216-4?otherVersion=978-1-4419-6217-1. - Загл. с экрана. - Текст : электронный.

    ГРНТИ УДК
    47.33.37621.3.049.771.14.019.3

    Кл.слова (ненормированные): БОЛЬШИЕ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ -- НАДЕЖНОСТЬ -- НАНОТЕХНОЛОГИИ
    Доп. точки доступа:
    Schmid, A.
    Leblebici, Y.

    http://www.springer.com/engineering/circuits+%26+systems/book/978-1-4419-6216-4?otherVersion=978-1-4419-6217-1


    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): ?-602515880)

    Шифр в сводном ЭК: d741c3ee3750e565221a73cc2af92e9b



    Заказ фрагмента документа ₽

    Просмотр издания