Полное описание

Радчук, Н. Б. Стандартизация, сертификация. метрология и технические измерения параметров полупроводниковых материалов : выставочные материалы / Н. Б. Радчук, А. Ю. Ушаков. - СПб. : Изд-во Политехн. ун-та, 2013. - 103 с. : ил. - Библиогр.: с. 101. - 100 экз. - ISBN 978-5-7422-3721-1. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: С.-Петерб. политехн. ун-т

ГРНТИ	УДК
47.01.77	621.315.592.08

Рубрики:
Полупроводники -- Параметры -- Измерение

Аннотация: Рассмотрены основы стандартизации, сертификации и метрологии. Описаны полупроводниковые материалы. Представлены методы электрических и оптических измерений параметров полупроводниковых материалов.
Доп. точки доступа:
Ушаков, А.Ю.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д9-13/92806)

Шифр в сводном ЭК: d0ee5a2e902b9baafedf465e00460415