Полное описание

Study of the charge multiplication phenomenon is silicon epitaxial detector / Yu.G.Sobolev,V.F.Kushniruk,E.Bialkowski и др. - Dubna : [s. n.], 1999. - 6 p. : il. - (Препринт / Объединенный ин-т ядерных исследований(Дубна) ; Е13-99-185). - 340 экз. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
29.15.39	539.1.074.5(04)

Рубрики:
Детекторы ионизирующих излучений полупроводниковые

Кл.слова (ненормированные): ИОНИЗИРУЮЩЕЕ ИЗЛУЧЕНИЕ -- ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ДЕТЕКТОРЫ
Доп. точки доступа:
Sobolev, Yu.G.
Kushniruk, V.F.
Bialkowski, E.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Н/2509/Е13-99-185)

Шифр в сводном ЭК: a82a55a7832ba557eac28c3fcd8b632a

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽