Полное описание

Beam test of the SDC double-sided silicon strip detector : presented at the IEEE 1993 nuclear science symp.,Nov.2-6 1993,San Francisco(Ca) / Y.Unno,F.Hinode,T.Akagi и др. - Tsukuba : [s. n.], 1993. - 5 p. : ill. - (KEK preprint / Nat.lab.for high energy physics ; 93-127). - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.5

ГРНТИ	УДК
29.15.39	539.1.074.5

Рубрики:
Детекторы ионизирующих излучений полупроводниковые

Доп. точки доступа:
Unno, Y.
Hinode, F.
Akagi, T.
Kohriki, T.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/17226/93-127)

Шифр в сводном ЭК: 8e142df57303a896b20b64ae96e40b2d

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽