• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Боуэн, Д. К. Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография : пер.с англ. / Д.К.Боуэн,Б.К.Таннер;Отв.ред.И.Л.Шульпина. - СПб. : Наука, 2002. - 274 с. : ил. - Пер. изд. : High resolution X-ray diffractometry and topography / D. K. Bowen, B. K. Tanner. - S.l., 1998. - 700 экз. - ISBN 5-02-024963-7. - Текст : непосредственный.
    Библиогр.: с. 269-270 (51 назв.). Предм. указ.: с. 271-274

    ГРНТИ УДК
    47.09621.38.002.3
    47.01.77

    Рубрики:
    Электронные материалы -- Методы исследования

    Доп. точки доступа:
    Таннер, Б.К.
    Bowen, D. K.
    Tanner, B. K.

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ж2-02/28875)

    Шифр в сводном ЭК: 77a806415ccaa79c43781df1dc7447b8



    Заказ фрагмента документа ₽