• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Scanning probe microscopy : electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale / SpringerLink (Online service) ; eds. S. Kalinin, A. Gruverman. - New York, NY : Springer Science + Business Media LLC, 2007. - on-line. - URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-28668-6. - ISBN 978-0-387-28668-6. - Текст : электронный.

    ГРНТИ УДК
    29.35.43537.533.35

    Кл.слова (ненормированные): СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
    Доп. точки доступа:
    Kalinin, S.\ed.\
    SpringerLink (Online service)

    http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-28668-6


    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): 537.533.35/S30-554784)

    Шифр в сводном ЭК: 62de374389ad37b7de4035a7ca867602



    Просмотр издания