Полное описание

Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. - New York, NY : Springer, 2007 - . - Текст : непосредственный.
Vol. 2. - 2007. - XX, p. 561-980 : il. - Указ.: с. 974-980

ГРНТИ	УДК
29.35.43	537.533.35

Рубрики:
Микроскопия электронная

Доп. точки доступа:
Kalinin, S.\ed.\

Имеются экземпляры в отделах: всего -20081116 : ХР (-20081117), (1)
Свободны: ХР (1), (1)
Копия:

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/18220/2)

Шифр в сводном ЭК: 6060a3764add165a27ed86bc1cdf2846

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽