Полное описание

Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. - New York, NY : Springer, 2007 - . - Текст : непосредственный.
Vol. I. - 2007. - XX, 565 p. : il. - Указ.: с. 559-565. - ISBN 978-0387-28667-9

ГРНТИ	УДК
29.35.43	537.533.35

Рубрики:
Микроскопия электронная

Доп. точки доступа:
Kalinin, S.\ed.\

Имеются экземпляры в отделах: всего -20081116 : ХР (-20081117), (1)
Свободны: ХР (1), (1)
Копия:

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/18220/I)

Шифр в сводном ЭК: 60027b60697721c61215b83e9d190181

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽