Полное описание
> Research / Japan atomic energy research inst. - S.l. : [s. n.]. - Текст : непосредственный.
2002-033 : Inferring Zeff spatial profile from background light in incoherent Thomson scattering diagnostic / O.Naito,T.Hatae. - Tokai : [s. n.], 2003. - 9 p. : ill.
Библиогр.:с.6
ГРНТИ | УДК | |
29.27.49 | 621.039.66 |
Рубрики:
Плазма -- Оптический метод исследования
Кл.слова (ненормированные): ПЛАЗМА -- ПЛАЗМА
Доп. точки доступа:
Hatae, T.
>
Имеются экземпляры в отделах: всего -20040205 : ХР (-20040205)
Свободны: ХР (1)
Копия:
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/17608/2002-033)>
Шифр в сводном ЭК: 4146f43cd3e7ac6a06f3bcb00f2eed0a
Заказ фрагмента документа ₽