• ВХОД

    •  

    Полное описание

    X-ray topography and high-resolution diffraction : 2nd European symposium on X-ray topography and high-resolution diffraction,held 0n 5-7 Sept.1994,Berlin / Ed.: R. Kohler, H. Klapper. - Bristol : [s. n.], 1995. - 300 p. : ill. - (Journal of physics D:applied physics, ISSN 0022-3727 ; vol.28,N 4A,1995). - Текст : непосредственный.
    Библиогр.в конце статей

    ГРНТИ УДК
    29.19.19548.73(063)
    548.4(063)

    Рубрики:
    Рентгеноструктурный анализ -- Съезды и конференции

    Доп. точки доступа:
    Kohler, R.\ed.\
    Klapper, H.\ed.\

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): V2143/Vol.28,N 4A,1995)

    Шифр в сводном ЭК: 3a2a63b680c167c7fe92834c558453c9



    Заказ фрагмента документа ₽