Полное описание

Jong, A. F.de Image interpretation for transmission electron microscoopy of thin semiconductor layers and interfaces : diss. / A.F.de Jong. - Delft, 1990. - 185 p. : ill. - Текст : непосредственный.
Библиогр.в конце гл.

ГРНТИ	УДК
29.19.31	537.311.322:620.186(043)
	537.311.322:539.216.2(043)

Рубрики:
Полупроводники -- Методы исследования

Кл.слова (ненормированные): ПОЛУПРОВОДНИК
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/22705)

Шифр в сводном ЭК: 1526a35e2cfbcdfa384e62e32297472f

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽