• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Joy, D. C. Helium ion microscopy. Principles and applications / D. C. Joy. - New York, NY [etc.] : Springer, 2013. - on-line. - (SpringerBriefs in materials). - URL: http://link.springer.com/book/10.1007/978-1-4614-8660-2. - Загл. с экрана. - ISBN 978-1-4614-8660-2. - Текст : электронный.

    ГРНТИ УДК
    31.17.15546.291-128.04:543.4

    Кл.слова (ненормированные): ГЕЛИЙ -- ИОНЫ -- МИКРОСКОПИЯ

    http://link.springer.com/book/10.1007/978-1-4614-8660-2


    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): ?-335031439)

    Шифр в сводном ЭК: 032fa1889444770cecacdabd7280afb9



    Заказ фрагмента документа ₽

    Просмотр издания