• ВХОД
  •  

    Полное описание

    И Лун. Обоснование комплексной технологии разработки многопластовых залежей с применением тампонирования и горизонтальных скважин : автореф. дис. ... канд. техн. наук: 25.00.17 / И Лун. - М., 2009. - 24 с. : ил. - Библиогр.: с. 24(4 назв.). - Текст : непосредственный.

    ГРНТИ УДК
    38.53.19622.276.03(043)

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар09-5396)

    Шифр в сводном ЭК: edf2bdaac13d9ff141e99308eab156e2



    Заказ фрагмента документа ₽