Полное описание

Extreme statistics in nanoscale memory design / eds.: A. Singhee, R. A. Rutenbar ; ed. A. Singhee. - 1. - Boston, Ma : Springer Science+Business Media LLC, 2010. - on-line. - (Integrated circuits and systems). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6606-3. - ISBN 978-1-4419-6606-3. - Текст : электронный.
Рубрики:
Engineering
Electronics
Systems engineering
Engineering
Circuits and systems
Electronics and microelectronics, instrumentation

Доп. точки доступа:
Singhee, A.\ed.\
SpringerLink (Online service)

http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6606-3

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): -574855)

Шифр в сводном ЭК: c576033ab3496e0dce137fbe6d8b249d

Просмотр издания