Полное описание
> Spitzer, J. Untersuchung der Grenzflacheneigenschaften von Halbleiter-Ubergittern mit Ramanstreuung : Diss / J.Spitzer. - Stuttgart, 1994. - 262 S. : Ill. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.239-259
ГРНТИ | УДК | |
29.19.31 | 537.311.322:532.6(043) |
Рубрики:
Сверхрешетки
Кл.слова (ненормированные): СВЕРХРЕШЕТКА
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): G2/18916)>
Шифр в сводном ЭК: 1d68c7063eb36ed73a7459e7131963a4
Заказ фрагмента документа ₽