Extreme statistics in nanoscale memory design / eds.: A. Singhee, R. A. Rutenbar, 2010 r=on-line. - Текст : электронный.
Singhee A. Novel algorithms for fast statistical analysis of scaled circuits / A. Singhee, R. A. Rutenbar, 2009 r=on-line. - Текст : электронный.