Электронный каталог

    страница из
    всего найдено записей: 4,
      отображать

    Лицевая сторона карточкиОбратная сторона карточки

    Лицевая сторона карточкиОбратная сторона карточки

    Лицевая сторона карточкиОбратная сторона карточки

    Голосовский И.В. Some remarks on rietveld profile refinement of neutron diffraction patterns for fullerene structure / И. В. Голосовский, A. I. Sibiev, V. P. Budtov, 1998. - 9 p. - Текст : непосредственный.