Рентгеновские лучи
16.10.2024 г. - 16.12.2024 г.
Холл2
В изданиях представлена информация о методах исследования структуры объектов с помощью рентгеновского излучения, о факторах, влияющих на интенсивность рентгеновских отражений, описаны возможности высокотемпературной рентгенографии и рентгеновской компьютерной томографии, освещены вопросы разработки и использования аппаратуры и методики рентгеноспектрального и рентгеноструктурного анализов.
Выставка рассчитана на студентов, аспирантов, инженерно-технических работников, занимающихся вопросами рентгеновского анализа и рентгеновской спектроскопии.
При подготовке выставки использовались монографии, сборники трудов и конференций, учебные и учебно-методические пособия, сборники статей из фонда ГПНТБ России, электронных библиотечных систем Лань, ZNANIUM, цифрового образовательного ресурса IPR SMART, образовательной платформы «Юрайт».
С материалами выставки можно ознакомиться в холле 2-го этажа основного здания библиотеки с 16 октября по 16 декабря 2024 года. По окончании срока экспонирования выставки Вы можете оформить предварительный заказ заинтересовавшего Вас печатного издания из списка, кликнув кнопку «ЗАКАЗАТЬ». Для заказа необходима авторизация в Личном кабинете читателя. С изданиями Вы можете работать в читальном зале, выбранном Вами при оформлении заказа.
Если у Вас есть вопросы по использованию печатных изданий, представленных на выставке, обращайтесь по телефону: 8(495) 698-93-07, электронной почте: sbz@gpntb.ru или в чат на главной странице сайта библиотеки.
Для чтения электронных изданий, представленных на выставке, необходима авторизация. С условиями доступа можно ознакомиться в Личном кабинете в разделе «Лицензионные ресурсы».
Разделы выставки:
Об открытии рентгеновских лучей
Рентгеновские лучи. Применение
![]() 7. Аппаратура и методы рентгеновского анализа : сб.ст. / Спец.конструкт.бюро рентген.аппаратуры. - Л. : [б. и.], 19 - . - Текст : непосредственный. В сборнике освещаются вопросы разработки и использования аппаратуры и методики рентгеноспектрального и рентгеноструктурного анализов. Приводится описание новых приборов как серийных, так и уникальных, и их характеристики, полученные при решении конкретных задач по исследованию различных материалов. Сборник предназначен для научных и инженерно-технических работников, занимающихся вопросами рентгеновского анализа и рентгеновской спектроскопии.
|
8. Бармаков, Юрий Николаевич. Основы цифровой рентгеновской и нейтронной радиографии / Ю. Н. Бармаков, В. И. Микеров, Д. И. Юрков. - Москва : Изд-во Эдитус, 2022. - 210 с. : ил., цв. ил. - Авт. указ. на обороте тит. л. - Библиогр. в конце гл. - 30 экз. - ISBN 978-5-00149-919-0 : 260 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: Учебное пособие описывает современный уровень развития цифровой рентгеновской и нейтронной радиографии. В пособии излагаются вопросы, относящиеся к генерации рентгеновского (гамма-) и нейтронного излучений, регистрации изображений, влиянию различных факторов на их качество. Рассматриваются различные способы реализации методов, стандарты, а также программное обеспечение, используемое при получении и обработке изображений. В результате обучения студенты должны овладеть теоретическими знаниями и практическими приемами, которые могут быть ими использованы как при разработке методов и оборудования радиационной радиографии, так и при ее применении в промышленности и научных исследованиях. Пособие предназначено для студентов, изучающих курс "Ядерно-физические методы. Физические основы нейтронной и рентгеновской радиографии" по направлению 14.04.02 "Ядерная физика и технологии". Оно может быть рекомендовано молодым специалистам и выпускникам вузов, начинающим работать в области неразрушающего контроля.
|
9. Бессонов, Виктор Борисович. Программно-аппаратные комплексы для микрофокусной рентгеновской компьютерной томографии / В. Б. Бессонов ; Минобрнауки России, Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В. И. Ульянова (Ленина). - Санкт-Петербург : Изд-во СПбГЭТУ "ЛЭТИ", 2022. - 125 с. : ил. - Библиогр.: с. 110-124 (102 назв.). - 500 экз. - ISBN 978-5-7629-3066-6 : 200 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: Рассматриваются основные конструктивные и физико-технические особенности микрофокусных рентгеновских компьютерных томографов. Приведены сведения об используемых в их конструкции источниках рентгеновского излучения, цифровых детекторах рентгеновских изображений, физической защите от ионизирующего излучения; рассмотрены наиболее часто применяемые из них. Подробно проанализированы особенности сбора проекционных данных в микрофокусной рентгеновской компьютерной томографии, принципы томографической реконструкции. Описаны разработанные в СПбГЭТУ "ЛЭТИ" и внедренные в серийное производство и эксплуатацию образцы микрофокусных рентгеновских компьютерных томографов и результаты исследований, полученные с их применением. Предназначено студентам, аспирантам, инженерам и научным работникам, занимающимся исследованием и разработкой систем и комплексов для проведения рентгеновского неразрушающего контроля в промышленности и для научных исследований.
|
10. Всероссийская научно-практическая конференция производителей рентгеновской техники (7 ; 2020 ; Санкт-Петербург). VII Всероссийская научно-практическая конференция производителей рентгеновской техники, 26-27 ноября 2020 г. : программа и материалы конференции / Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ". - Санкт-Петербург : Изд-во СПбГЭТУ "ЛЭТИ", 2020. - 133 с. : ил. - Библиогр. в конце докл. - 50 экз. - ISBN 978-5-7629-2787-1 : 200 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Представлены программа и материалы VII Всероссийской научно-практической конференции производителей рентгеновской техники. Основная часть докладов конференции посвящена различным вопросам разработки и применения рентгеновской аппаратуры - современных отечественных средств цифровой микрофокусной рентгенографии, включая специализированные источники рентгеновского излучения, цифровые твердотельные приемники рентгеновского изображения, защитные камеры для проведения рентгенографических работ.
|
11. Гагис, Галина Сергеевна. Методы диагностики эпитаксиальных структур: рентгеновский микроанализ, рентгеновская дифрактометрия, фотолюминесценция : лабораторный практикум / Г. С. Гагис, В. И. Васильев ; Минобрнауки России, Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В. И. Ульянова (Ленина). - Санкт-Петербург : Изд-во СПбГЭТУ "ЛЭТИ", 2021. - 79 с. : ил. - Библиогр.: с. 78 (19 назв.). - 44 экз. - ISBN 978-5-7629-3016-1 : 150 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: Представлены лабораторные работы по диагностике эпитаксиальных структур для дисциплины "Физико-химические основы технологии изделий электроники и наноэлектроники". Предназначено для студентов бакалавриата, обучающихся по направлению 10.03.04 "Электроника и наноэлектроника", а также может быть полезно магистрам и аспирантам этого направления при прохождении практики и подготовке дипломных работ.
|
![]() 12. Горбунов, Н. И. Рентгенограммы, термограммы и кривые обезвоживания минералов, встречающихся в почвах и глинах / Н. И. Горбунов, И. Г. Цюрупа, Е. А. Шурыгина ; ответственные редакторы: член-корреспондент АН СССР И. В. Тюрин и профессор Н. И. Горбунов ; Академия наук СССР, Почвенный институт им. В. В. Докучаева. - Москва : Изд-во Академии наук СССР, 1952. - 185, [2] с. : ил. - Библиогр. в конце кн. - 3000 экз.Б. ц. - Текст : непосредственный. Аннотация: Приводится наиболее часто встречающиеся в почвах соли и важные для изучения почв и глин минералы. Излагается краткое описание свойств минералов, наиболее распространённых в почвах и почвообразующих породах, а также краткое описание методики определения минералов рентгенографическими и термическими методами.
|
![]() 13. Григорьев, Юрий Григорьевич. Лучевые поражения и компенсация нарушенных функций : (материалы изучения первоначальных реакций организма при воздействии ионизирующего излучения в малых и больших дозах) / Ю. Г. Григорьев. - Москва : Госатомиздат, 1963. - 201, [2] с. : ил. + [3] л. ил. - Библиогр.: с. 176-202. - 4150 экз.Б. ц. - Текст : непосредственный. Аннотация: Данная книга является обобщением результатов многолетних исследований, которые были проведены как на различных экспериментальных моделях лучевого воздействия, так и в клинике при рентгено- и кюритерапии. Монография посвящена системным реакциям организма, развивающимся уже в ходе лучевого воздействия. В ней представлена функциональная характеристика первоначальных реакций, возникающих при воздействии ионизирующего излучения в разных дозах. Изучены особенности биологического действия малых доз излучения на основе первоначальных реакций нервной системы. Приведены материалы, характеризующие функциональные реакции организма во время воздействия смертельных доз радиации. Представлены данные, характеризующие особенности гибели животных "под лучом". Изучение реакций организма в период облучения потребовало разработки ряда методических приемов, описание которых дается по ходу изложения соответствующих результатов исследований. На основе полученного материала сделана попытка подойти к наиболее сложному этапу обобщения и рассмотрены некоторые вопросы компенсации нарушенных функций при лучевых поражениях, высказаны соображения о классификации этих реакций. Они рассмотрены в свете собственных экспериментов, характеризующих значительные возможности организма к компенсации в условиях лучевого воздействия.
|
14. Долгачев, Юрий Вячиславович. Методы определения состава металлических сплавов : учебное пособие / Ю. В. Долгачев, В. Н. Пустовойт ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Донской государственный технический университет. - Ростов-на-Дону : ДГТУ, 2023. - 56 с. : ил. - Библиогр.: с. 55. - 100 экз. - ISBN 978-5-7890-2113-2 : 50 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: Кратко изложены основные теоретические положения в рамках учебного курса "Методы анализа состава материалов", касающиеся практических методов определения химического и фазового состава металлических материалов. Предназначено для обучающихся по направлениям подготовки "Материаловедение и технологии материалов", "Наноинженерия", "Металлургия", также будет полезно также магистрантам и аспирантам, специализирующимся в области материаловедения.
|
15. Жигалина, Ольга Михайловна. Исследование материалов методами рентгеноструктурного анализа : учебно-методическое пособие / О. М. Жигалина, Р. М. Назаркин ; Московский государственный технический университет имени Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет). - Москва : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2023. - 114, [1] с. : ил. - (Учебно-методическое пособие МГТУ им. Н. Э. Баумана). - Библиогр.: с. 106. - 179 экз. - ISBN 978-5-7038-6058-8 : 200 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: Рассмотрены физические основы рентгеноструктурного анализа, принципы работы рентгеновского дифрактометра, вопросы подбора рентгеновских трубок и В-фильтров для объектов исследований, идентификации простых веществ (фаз), индицирования рентгенограмм фаз с кубической и средней сингонией, качественного фазового анализа, определения периодов решетки мартенсита и содержания в нем углерода, определения средних размеров частиц дисперсной фазы и величины макронапряжений (напряжений первого рода). Для студентов бакалавриата, обучающихся по специальности 22.03.01 "Материаловедение и технологии материалов", изучающих дисциплины "Методы структурного анализа материалов" и "Материаловедение".
|
16. Завалищин, Александр Николаевич. Использование электромагнитных волн при анализе металлов : учебное пособие / А. Н. Завалищин, М. И. Румянцев ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Магнитогорский государственный технический университет им. Г. И. Носова. - Магнитогорск : МГТУ им. Г. И. Носова, 2023. - 175 с. : ил. - 100 экз. - ISBN 978-5-9967-2809-1 : 150 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: В учебном пособии рассмотрены методы, применяемые для анализа металлов и сплавов с помощью рентгеновского излучения и дифракции ускоренных электронов. Для закрепления ранее полученных знаний в первой главе приводятся необходимые материалы из разделов математики, физики и кристаллографии. Вторая глава посвящена рентгеноструктурному анализу, в которой на основе ранее приведенных теоретических основ взаимодействия рентгеновских лучей с кристаллической решеткой рассматриваются практические методы анализа твердого вещества. В последней главе представлена необходимая информация, позволяющая освоить методы анализа металлов с помощью дифракции пучка ускоренных электронов при прохождении его через вещество. В пособии широко использованы и цитированы труды современных отечественных ученых, авторами которых являются Я. С. Уманский, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев, М. М. Бородкина, Э. Н. Спектор и др. Заимствован материал из многочисленных сайтов интернета.
|
17. Закирова, Р. М. B данной части учебно-методического пособия приведено: 1) классификация рентгеновских трубок; 2) устройство рентгеновских дифрактометров ДРОН; 3) описание рентгеновской схемы съемки Брегга-Брентано; 4) описание способов регистрации дифракционных максимумов; 5) описание способов подготовки поликристаллических образцов для исследования методом рентгеновской дифракции. Учебно-методическое пособие предназначено для студентов УдГУ старших курсов бакалавриата, магистрантов и аспирантов, обучающихся по направлениям "Физика", "Химия, физика и механика материалов", "Химия", "Физика конденсированного состояния вещества".
|
18. Закирова, Р. М. В данной части учебно-методического пособия показано, как происходит интерференция рентгеновских лучей и формирование дифракционной картины рентгеновских лучей для порошковых материалов (поликристаллических материалов); приведены методики получения дифракционных картин (выбор режима съемки, выбор излучения), расчета порошковых дифрактограмм, проведения качественного фазового анализа. Учебно-методическое пособие содержит необходимый материал для успешного освоения фазового анализа поликристаллов. Предназначено для студентов УдГУ старших курсов бакалавриата, магистрантов и аспирантов, обучающихся по направлениям: "Физика", "Химия, физика и механика материалов", "Химия", "Физика конденсированного состояния вещества".
|
19. Измерение дозиметрических параметров рентгенотерапевтических аппаратов с напряжением генерации пучков рентгеновского излучения от 10 до 300 кВ : методические рекомендации / [сост.: А. Ю. Смыслов и др.]. - Томск : Изд-во Томского гос. ун-та, 2023. - 59 с. : ил. - Загл. обл. : Измерение дозиметрических параметров рентгенотерапевтических аппаратов с напряжением генерации пучков рентгеновского излучения от 10 кВ до 300 кВ. - Библиогр.: с. 46-48 (25 назв.). - 120 экз. - ISBN 978-5-907572-11-9 : 100 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: В настоящее время в России отсутствует национальный стандарт проведения дозиметрических измерений на рентгенотерапевтических аппаратах с энергией излучения от 10 до 300 кВ, что существенно затрудняет работу на них как медицинских физиков, так и врачей-радиотерапевтов. Представленные методические рекомендации предлагают стандартизировать и установить единые правила проведения медицинскими физиками дозиметрических измерений на рентгенотерапевтических аппаратах, их периодичность, расчет погрешностей и оформление полученных результатов. Также данные рекомендации включают обширные данные по общим вопросам дозиметрии на рентгенотерапевтических аппаратах и дополнительную информацию по инструментам и оборудованию, которое можно использовать для данного вида работ.
|
20. Интеллектуальные информационные технологии в управлении биомедицинским оборудованием : учебное пособие / Н. В. Болдырихин, О. С. Бурякова, Г. Ш. Голубев [и др.] ; под общей редакцией Л. В. Черкесовой ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Донской государственный технический университет (ДГТУ). - Ростов-на-Дону : ДГТУ, 2022. - 141 с. : ил. - Авт. указ. на обороте тит. л. - Библиогр.: с. 135-138 (55 назв.). - 100 экз. - ISBN 978-5-7890-2062-3 : 100 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: Представлены проекты разработки отечественного импортозамещающего программного обеспечения, применяемого в медицине: программные интерфейсы с применением технологии компьютерного зрения, предназначенные для обработки рентгенограмм в области ортопедии; для взаимодействия со шлемом виртуальной реальности, используемым в офтальмологической хирургии; для системы голосового управления хирургическим столом, способной регулировать параметры оборудования в процессе хирургической операции над пациентом и др. Предназначено для обучающихся бакалавриата и магистратуры кафедры "Кибербезопасность информационных систем" факультета "Информатика и вычислительная техника" ДГТУ, а также для всех любознательных, активных и творческих людей, обладающих техническим складом ума, интересующихся вопросами развития новейших биомедицинских информационных технологий.
|
21. Кашин, С. Н. Фазовый анализ поликристаллов и тонких пленок методом рентгеновской дифракции : методика выполнения измерений на приборе ДРОН УМ-2 / Кашин С. Н., Коплак О. В. ; Институт проблем химической физики Российской академии наук (ИПХФ РАН), Аналитический центр коллективного пользования. - Черноголовка : ИПХФ РАН, 2022. - 173 с. : ил. - Библиогр.: с. 173 (7 назв.). - 100 экз. - ISBN 978-5-91845-097-0 : 200 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: Представлена методика выполнения измерений на приборе ДРОН УМ-2 фазового анализа поликристаллов в тонких пленок методом рентгеновской дифракции.
|
22. Клиническая дозиметрия рентгеновского излучения : учебно-методическое пособие / Е. С. Сухих, Л. Г. Сухих, А. В. Вертинский, М. И. Клиновицкая ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Национальный исследовательский Томский политехнический университет. - Томск : Изд-во Томского политехнического ун-та, 2021. - 85 с. : ил. - Библиогр.: с. 76 (11 назв.). - 100 экз. - ISBN 978-5-4387-0989-3 : 260 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: В пособии изложены основы клинической дозиметрии рентгеновского излучения в диапазоне энергий от 80 до 300 кэВ. Состоит из краткого теоретического минимума и описания практических особенностей клинической дозиметрии рентгеновского излучения. Подготовлено на основе международных рекомендаций, разработанных ведущими специалистами в области клинической дозиметрии рентгеновского излучения для лучевой терапии. Предназначено для магистрантов, обучающихся по направлению 1 4.03.02 "Ядерные физика и технологии", а также для медицинских физиков, работающих в радиотерапевтических отделениях.
|
![]() 23. Ковалев, А. В. Принципы симметрии и проблема постоянного магнита / А. В. Ковалев. - Гатчина : НИЦ "Курчатовский институт" - ПИЯФ, 2023. - 20, [1] с. : ил. - (Препринт / "Курчатовский институт", национальный исследовательский центр - Петербургский институт ядерной физики им. Б. П. Константинова (Гатчина) ; 3073). - Библиогр.: с. 19-21 (45 назв.). - 80 экз. - ISBN 978-5-86763-479-7 : 20 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: Приводится содержание проблемы постоянного магнита. Особенности кристаллической текстуры ферромагнитных пленок сплава Co67Fe31V2, изготовленных методом магнетронного распыления, и нестандартный метод рентгеновской дифракции позволили выполнить проверку идеи А. С. Компанейца, предложившего решение этой проблемы. Полученные результаты можно использовать для объяснения взаимосвязи многих явлений в магнитных материалах и формулировки новых задач.
|
24. Компьютерная томография : учебное пособие / Баранов Владимир Николаевич, Сергейчик Оксана Ивановна, Цой Евгений Робертович [и др.] ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Тюменский индустриальный университет. - Тюмень : ТИУ, 2022. - 114 с. : ил. - Авт. указ. в вып. дан. - Библиогр.: с. 108-114 (74 назв.). - 500 экз. - ISBN 978-5-9961-2975-1 : 100 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: В учебном пособии систематизированы современные представления об основах лучевой диагностики и компьютерной томографии. Представлены общая схема компьютерного томографа и особенности его построения, технологии диагностики заболеваний. Пособие разработано для обучающихся по направлениям подготовки 12.03.04 и 12.04.04 "Биотехнические системы и технологии", а также аспирантов, преподавателей, инженерного персонала лечебно-профилактических и медико-технических учреждений.
|
25. Кузнецов, Владислав Сергеевич. Современные методы минералогических и геохимических исследований : учебно-методическое пособие / В. С. Кузнецов, В. В. Абрамов ; Министерство науки и высшего образования РФ, Воронежский государственный университет. - Воронеж : Издательский дом ВГУ, 2022. - 87 с. : ил. - Библиогр.: с. 86-87 (26 назв.). - 50 экз. - ISBN 978-5-9273-3601-2 : 150 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: Учебно-методическое пособие подготовлено на кафедре минералогии, петрографии и геохимии геологического факультета Воронежского государственного университета. В пособии охарактеризованы современные методы, используемые для исследования вещественного состава и физических свойств минералов и горных пород, методы выделения монофракций минералов, а также приемы отбора проб и пробоподготовки. Для студентов магистратуры 1-го года очной формы обучения геологического факультета, обучающихся по направлению 05.04.01 "Геология".
|
26. Кульчин, Ю. Н. Основная цель 2-й части учебного пособия - представить в доступной форме базовые знания о методах исследования вещества, основанных на использовании синхротронного излучения. Рассматриваются вопросы оборудования каналов синхротронных источников излучения, взаимодействия рентгеновского излучения с веществом, рентгеновской оптики, методы рентгеновского изображения для исследования структуры объектов, методы рентгеновской спектроскопии поглощения и рентгенофлуоресцентной спектроскопии, а также методы рентгеновской флуоресцентной томографии, рентгеновской голографии и рентгеновской дифракции. Предназначено для студентов и исследователей, ставящих своей задачей повышение общего уровня образования и планирующих использование синхротронного излучения в своей работе.
|
27. Лидер, В. В. Рентгеновская и рентгенофлоуресцентная микроскопия : монография / В. В. Лидер. - Москва : Юстицинформ, 2021. - 147 с. : ил. - (Серия: Наука). - Библиогр.: с. 116-147 (652 назв.). - 27 экз. - ISBN 978-5-7205-1779-3 : 200 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: В книге описаны методы рентгеновской микроскопии и рентгеновской флуоресцентной визуализации, рассмотрены вопросы формирования рентгеновского изображения и способы получения оптимального пространственного разрешения с помощью фокусирующей рентгеновской оптики, а также приведены примеры применения этих методов для структурной и химической характеризации широкого круга исследуемых объектов. Книга основана на богатом теоретическом и экспериментальном материале (652 литературные ссылки). Книга рассчитана на студентов, аспирантов и ученых, работающих в области современных технологий, физики, биомедицины, геологии, археологии, изучения окружающей среды и сохранения культурного наследия. Ключевые слова: рентгеновские лучи, рентгеновская микроскопия, рентгеновская флуоресценция, рентгеновская фокусирующая оптика, томография, синхротронное излучение, спектроскопия.
|
28. Лубенченко, Александр Владимирович. Послойный химический и фазовый анализ наноразмерных пленок методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : учебное пособие : по курсу "Исследование поверхности в условиях вакуума и низких температур" для студентов, обучающихся по направлению "Ядерная энергетика и теплофизика" и по профилю "Нанотехнологии и наноматериалы в энергетике" / А. В. Лубенченко, Д. А. Иванов, О. И. Лубенченко ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Национальный исследовательский университет "МЭИ". - Москва : Изд-во МЭИ, 2022. - 65 с. : ил. - Библиогр.: с. 56 (5 назв.). - 50 экз. - ISBN 978-5-7046-2746-3 : 100 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: В учебном пособии излагаются теоретические основы метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС), представлено оборудование для проведения РФЭС, которое используется в НИУ "МЭИ", приведены практические задания. Предназначено для студентов, обучающихся по курсу "Исследование поверхности в условиях вакуума и низких температур" (образовательная программа "Нанотехнологии и наноматериалы в энергетике").
|
29. Лучшие практики лучевой и инструментальной диагностики : серия / Научно-практический клинический центр диагностики и телемедицинских технологий Департамента здравоохранения города Москвы. - Москва : НПКЦ ДиТ ДЗМ, 2017 - . - ISBN 2618-7124. - Текст (визуальный) : непосредственный. Методические рекомендации предназначены для проведения испытаний средств радиационной защиты и рентгенозащитных материалов в целях контроля защитной эффективности и эксплуатационных параметров. Рекомендации относятся к медицинским рентгенодиагностическим и радиологическим исследованиям и предназначены для сотрудников испытательных лабораторий и организаций, осуществляющих радиационный контроль в медицинских организациях, а также могут быть использованы экспертными организациями и органами, осуществляющими санитарно-эпидемиологический надзор.
|
30. Марков, Вячеслав Филиппович. Наноматериалы: получение, свойства и применение : учебное пособие / В. Ф. Марков, Л. Н. Маскаева ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б. Н. Ельцина, Химико-технологический институт. - Екатеринбург : Изд-во Уральского ун-та, 2023. - 157, [1] с. : ил. - Библиогр. в конце кн. - 30 экз. - ISBN 978-5-7996-3644-9 : 200 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: В учебном пособии с учетом современных представлений приведены общие сведения о веществах, находящихся в наносостоянии, их свойствах, способах получения и применении. Особое внимание уделено таким важнейшим особенностям наноматериалов, как влияние на их физико-химические характеристики и поведение размерных эффектов, дано их объяснение с физической точки зрения. Представлена классификация наноматериалов, рассмотрены их основные группы, описаны основные технологические приемы их получения, приведены основные методы диагностики и исследования. Параллельно рассмотрено применение описанных классов наноматериалов в микро- и наноэлектронике, фотонике, металлургии, химии и других областях современной техники. Для студентов бакалавриата и магистратуры, специализирующихся в области химической технологии материалов и разработки изделий электроники и сенсорики.
|
31. Методы измерений параметров материалов и структур электроники : учебное пособие / Е. А. Печерская, О. В. Карпанин, А. М. Метальников, В. А. Соловьев ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Пензенский государственный университет (ПГУ). - Пенза : Изд-во ПГУ, 2021. - 196, [1] с. : ил. - Библиогр.: с. 194-197 (42 назв.). - 33 экз. - ISBN 978-5-907600-89-8 : 300 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: Изложены методы измерений электрофизических параметров полупроводниковых материалов и структур: удельного сопротивления материалов, электрофизических параметров активных диэлектриков, концентрации носителей заряда в полупроводниках, - оптические методы исследования параметров неравновесных носителей заряда, методы контроля рельефа поверхности и геометрических размеров структур электроники, рентгеновские и дифракционные методы исследования состава и структуры твердых тел. Издание предназначено для обучающихся по направлениям подготовки 27.03.01 "Стандартизация и метрология", 11.03.04 "Электроника и наноэлектроника", специальности 27.05.02 "Метрологическое обеспечение вооружения и военной техники", а также может быть полезно студентам родственных специальностей при изучении дисциплин "Материаловедение и измерение параметров материалов электронной техники", "Методы и средства измерений электрических и магнитных величин", "Методы измерений физических величин", "Методы измерений, контроля и испытаний изделий электронной техники" и др.
|
32. Основы нанотехнологии : учебник / Кузнецов Николай Тимофеевич, Новоторцев Владимир Михайлович, Жабрев Валентин Александрович, Марголин Владимир Игоревич. - . - 4-е изд. - Москва : Лаборатория знаний, 2023. - 397 с. : ил. - (Учебник для высшей школы). - Авт. указаны на обороте тит. л. - Библиогр.: с. 377-397. - Тираж не указ. - ISBN 978-5-93208-356-7 : 500 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: В учебнике изложены общие представления о нанотехнологии, ее концептуальные проблемы. Затронуты вопросы самоорганизации и синергетики в наномире, проанализированы возможности нанометрологии. Рассмотрены специфические особенности и проблемы наномира. Для студентов, изучающих дисциплины, связанные с применением нанотехнологии, магистрантов и аспирантов, инженерно-технических и научных работников, а также интересующихся проблемами современной науки.
|
33. Основы рентгеноспектрального анализа : учебно-методическое пособие / А. Ю. Грязнов, В. Б. Бессонов, К. К. Гук [и др.] ; Минобрнауки России, Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В. И. Ульянова (Ленина). - Санкт-Петербург : ЛЭТИ, 2022. - 27 с. : ил. - Авт. указ. на обороте тит. л. - 56 экз. - ISBN 978-5-7629-3060-4 : 100 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: Содержит описания лабораторных работ, в которых исследуются основные характеристики рентгенофлуоресцентных спектрометров и области их применения. Приведено описание спектрометров, показаны особенности энергодисперсионного и кристалл-дифракционного анализа. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 11.03.04 "Электроника и наноэлектроника".
|
34. Основы рентгеноструктурного анализа : лабораторный практикум / Министерство просвещения Российской Федерации, Мордовский государственный педагогический университет имени М. Е. Евсевьева (МГПУ) ; составители: Х. Х. Абушкин [и др.]. - Саранск : Мордовский гос. пед. ун-т им. М. Е. Евсевьева, 2024. - 87 с. : ил. - Библиогр. в конце лабораторных работ. - 40 экз. - ISBN 978-5-8156-1755-1 : 200 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: Лабораторный практикум "Основы рентгеноструктурного анализа" содержит описание лабораторных работ с компьютерной обработкой полученных данных. Приведен необходимый материал рентгеновской спектроскопии. Материалы пособия предназначены для студентов и учащихся общеобразовательных организаций в рамках дополнительной общеобразовательной программы "Основы рентгеноструктурного анализа".
|
35. Особенности проведения исследований с использованием рентгеновской установки фирмы LD DIDACTIC : учебное пособие / Н. М. Игнатенко, Г. А. Мельников, В. В. Сучилкин, А. С. Громков ; Минобрнауки России, Юго-Западный государственный университет. - Курск : ЮЗГУ, 2022. - 114 с. : ил. - Авт. указаны на обороте тит. л. - Библиогр.: с. 109-114 (40 назв.). - 150 экз. - ISBN 978-5-7681-1607-1 : 150 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: Даны краткие исторические и теоретические сведения о рентгеноструктурном анализе. Рассмотрены методы исследования структур моно- и поликристаллов. Приведены основные элементы кристаллографии, описание рентгеновской установки фирмы LD Didactic и методические указания по выполнению лабораторных работ на данной установке. Предназначено для студентов направлений подготовки 03.03.02 "Физика" и 28.03.01, 28.04.01 "Нанотехнологии и микроси- стемная техника", а также может быть полезно для студентов всех технических специальностей, аспирантов и преподавателей высших учебных заведений.
|
36. Пахаруков, Юрий Вавилович. Применение XAFS-спектроскопии в неразрушающем контроле материалов : учебное пособие / Ю. В. Пахаруков, Ф. К. Шабиев, Р. Ф. Сафаргалиев ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Тюменский индустриальный университет. - Тюмень : ТИУ, 2023. - 97 с. : ил. - Библиогр.: с. 97 (12 назв.). - 500 экз. - ISBN 978-5-9961-3051-1 : 150 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: Учебное пособие предназначено для студентов, обучающихся в Тюменском индустриальном университете по направлению "Приборостроение, неразрушающий контроль и материаловедение". Материал пособия написан для бакалавров, специалистов и аспирантов. Пособие содержит подробное описание синхротронного излучения с последующим анализом его спектроскопических свойств и возможностью применения в неразрушающем контроле.
|
![]() 37. Пинес, Борис Яковлевич. Острофокусные рентгеновские трубки и прикладной рентгеноструктурный анализ / Б. Я. Пинес. - Москва : Гос. изд-во технико-теоретической литературы, 1955. - 267 с. : ил. + [4] л. ил. - Библиогр.: с. 264-267 (77 назв.). - 4000 экз.Б. ц. - Текст : непосредственный. Аннотация: Первая часть книги профессора Б. Я. Пинеса посвящена описанию рентгеновских трубок с особо острым фокусом различных конструкций. Вторая часть книги посвящена описанию различных применений острофокусных трубок. Книга содержит таблицы "штрипсов" для гармонического анализа кривых интенсивности интерференционных линий. Книга рассчитана на физиков и инженеров, занимающихся исследованием структуры вещества, а также студентов старших курсов и аспирантов специальности "рентгеноструктурный анализ".
|
38. Полуэктова, Валентина Анатольевна. Методы исследования полимерных материалов. Теория и практика : учебное пособие / В. А. Полуэктова ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Белгородский государственный технологический университет им. В. Г. Шухова. - Белгород : Белгородский гос. технологический ун-т (БГТУ) им. В. Г. Шухова, 2023. - 216 с. : ил. - Библиогр.: с. 216 (9 назв.). - 50 экз. - ISBN 978-5-361-01199-5 : 260 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: В учебном пособии рассмотрены теоретические основы масс-спектрометрии, ЯМР-спектроскопии, ИК-спектроскопии, УФ-спектроскопии, хроматографического, рентгеноструктурного и термического анализов. Предложены методики выполнения лабораторных работ и проверочные задания для самостоятельной работы, охватывающие основные разделы дисциплины "Методы исследования полимерных материалов". Представлены примеры расшифровки масс, УФ-, ЯМР-, ИК-спектров, рентгено- и термограмм. Пособие подготовлено в соответствии с требованиями государственного образовательного стандарта высшего образования и предназначено для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению подготовки 18.03.01 - Химическая технология профиля "Технология и переработка полимеров", а также может быть рекомендовано в качестве дополнительной литературы для студентов по дисциплинам "Физико-химические методы анализа" и "Технический анализ полимеров".
|
39. Проведение радиационного контроля при медицинском использовании рентгеновского излучения : методические указания : МУК 2.6.1.3732-21 : издание официальное / Федеральная служба по надзору в сфере защиты прав потребителей и благополучия человека. - Москва : Роспотребнадзор, 2022. - 19, [1] с. : ил. - (Государственное санитарно-эпидемиологическое нормирование Российской Федерации. 2.6.1. Ионизирующее излучение. Радиационная безопасность). - 100 экз. - ISBN 978-5-7508-1942-3 : 20 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: Настоящие методические указания устанавливают порядок проведения радиационного (дозиметрического) контроля рентгеновского излучения в медицинских организациях и интерпретацию результатов измерений для оценки соответствия условий труда различных групп облучаемых лиц требованиям радиационной безопасности.
|
40. Рентгеноспектральный и рентгенофазовый анализ : учебное пособие / А. Д. Бадикова, Р. Н. Ширяева, Н. А. Бейгул [и др.] ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Уфимский государственный нефтяной технический университет. - Уфа : АЭТЕРНА, 2022. - 93 с. : ил. - Библиогр.: с. 84-85 (12 назв.). - 500 экз. - ISBN 978-5-00177-535-5 : 100 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: Учебное пособие посвящено рентгеноспектральному и рентгенофазовому анализу. Рассмотрены теоретические основы рентгеноспектрального и рентгенофазового анализа, качественный и количественный анализ и принципиальное устройство спектрометра. В лабораторных работах представлена информация по теоретическим основам, перечислены основные приборы и оборудование, показаны этапы эксперимента и методики обработки полученных результатов. Представлены контрольные задания разного уровня сложности. Предназначено для студентов химико-технологических специальностей вузов нефтегазового профиля.
|
41. Сахаров, Никита Владимирович. Электронно-зондовый рентгеновский микроанализ : учебное пособие / Н. В. Сахаров, М. А. Фаддеев ; под редакцией В. Н. Чувильдеева ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского. - Нижний Новгород : Изд-во Нижегородского госуниверситета, 2022. - 108 с. : ил. - Библиогр.: с. 86 (14 назв.). - 500 экз. - ISBN 978-5-91326-762-7 : 100 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: Учебное пособие содержит описание методики электронно-зондового рентгеновского микроанализа. В нем подробно описаны физические механизмы генерации характеристического рентгеновского излучения и процессы взаимодействия электронов с атомами вещества, а также рассмотрены вопросы вычисления концентраций химических элементов по экспериментальным спектрам рентгеновского излучения. В учебном пособии представлено подробное описание аппаратуры, используемой при проведении исследований приведена инструкция по проведению исследований. Пособие содержит дополнения по некоторым специальным разделам рентгеновской физики и необходимые справочные материалы. Для студентов физических факультетов, специализирующихся в области физики конденсированного состояния и физического материаловедения.
|
42. Синхротронные, нейтронные и рентгеновские методы диагностики структуры функциональных материалов : учебное пособие / Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Российский химико-технологический университет имени Д. И. Менделеева. - Москва : РХТУ им. Д. И. Менделеева, 2022 - . - ISBN 978-5-7237-2001-5. - Текст : непосредственный. В пособии рассмотрены вопросы генерации рентгеновского излучения, его взаимодействия с веществом, изложены принципы получения дифракционной картины и ее интерпретации в методах рентгенофазового и рентгеноструктурного анализа. Особое внимание уделено вопросам пробоподготовки, выбора оптимального метода анализа и обработке результатов. Предназначено студентам, обучающимся по направлениям подготовки 18.03.01 и 18.04.01 "Химическая технология", для углубления и лучшего усвоения знаний по профильным дисциплинам.
|
43. Синхротронные, нейтронные и рентгеновские методы диагностики структуры функциональных материалов : учебное пособие / Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Российский химико-технологический университет имени Д. И. Менделеева. - Москва : РХТУ им. Д. И. Менделеева, 2022 - . - ISBN 978-5-7237-2001-5. - Текст : непосредственный. Рассмотрены основные принципы работы синхротронных и нейтронных устройств. На примерах показаны методы анализа веществ с использованием синхротронного и нейтронного излучения. Особое внимание уделено основам рентгеновской топографии. Предназначено студентам, обучающимся по направлениям подготовки 18.03.01 и 18.04.01 "Химическая технология", для углубления и лучшего усвоения знаний по профильным дисциплинам.
|
44. Смирнова, Дарья Николаевна. Рентгеноструктурный и рентгенофазовый анализ. Аспекты точности : учебное пособие / Д. Н. Смирнова, Д. А. Прозоров, Н. Н. Смирнов ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Ивановский государственный химико-технологический университет. - Иваново : Ивановский издательский дом, 2022. - 115 с. : ил. - Библиогр.: с. 112-115 (30 назв.). - 100 экз. - ISBN 978-5-6049217-0-8 : 260 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: В пособии обобщен материал по повышению точности получения и обработки экспериментальных данных в дифрактометрии поликристаллов. Рассмотрены типы дифрактометров и их основные характеристики, методы юстировки гониометров для получения оптимального разрешения и светосилы. Приведены приемы обработки данных эксперимента, безэталонные методы измерения межплоскостных расстояний, эталоны и их применение, погрешности измерения интенсивностей и способы их устранения. Предназначено для магистров, аспирантов и научных сотрудников университета.
|
![]() 45. Спектры излучения рентгеновских установок : справочник / В.Н.Васильев,Л.А.Лебедев,В.П.Сидорин и др. - М. : Энергоатомиздат, 1990. - 143 с. : ил. - 4600 экз. - ISBN 5-283-02974-3 : 0.45 р. - Текст : непосредственный. Аннотация: Исследованы энергетические спектры излучения рентгеновских аппаратов различных типов. Описаны методы регистрации рентгеновского излучения, применяемая для этого аппаратура и методы обработки спектров на ЭВМ. Подробно исследовано изменение спектра в зависимости от параметров аппарата и условий облучения, а также при прохождении излучения через тканеэквивалентную среду, моделирующую организм человека. В приложении сожержатся справочные данные по спектральному составу излучения наиболее распространённых отечественных аппаратов. Для научных работников и инженеров, использующих рентгеновское излучение в различных областях науки и техники.
|
46. Структурно-текстурные и вещественные свойства сульфидных медно-никелевых руд / И. И. Никулин, Ю. А. Михайлова, А. О. Калашников [и др.] ; под общей редакцией В. И. Старостина ; ПАО "ГМК "Норильский никель" [и др.]. - Апатиты : Изд-во Кольского науч. центра РАН, 2022. - 82 с. : ил. - Авт. на обл. не указ. - Библиогр.: с. 79-82. - 500 экз. - ISBN 978-5-91137-467-9. - DOI 10.37614/978.5.91137.467.9 : 150 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: В книге приведены результаты изучения структурно-вещественных характеристик руд Норильского района. Использовались методы трехмерной рентгеновской томографии, локального анализа химического состава минералов, химического анализа пород, морфогеометрического анализа распределения рудных минералов. Выявлена взаимосвязь фрактальной размерности рудных агрегатов с химическим и минеральным составом руд и химическим составом породообразующих и рудных минералов. Установлено, что по структурным характеристикам пород возможно распознавать и прогнозировать химический состав сульфидов, содержание элементов платиновой группы в породе, морфологию сульфидных агрегатов. Показана возможность использования структурных характеристик пород для восстановления рудогенетических процессов.
|
47. Успехи в химии и химической технологии : [сборник] / Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Российский химико-технологический университет имени Д. И. Менделеева. - Москва : РХТУ им. Д. И. Менделеева, 20 - . - ISSN 1506-2017. - Текст : непосредственный. В сборник вошли статьи по актуальным вопросам в области синтеза и исследования структурных особенностей новых функциональных материалов (кристаллов, стёкол, керамики, полимеров, биоматериалов, гибридных материалов, пленочных структур, аэрогелей). Представлены статьи, посвященные новым разработкам в методологии дифракционного анализа и современным достижениям в области исследования дифракционными методами. Материалы сборника представлены для широкого обсуждения на Международной конференции молодых исследователей и специалистов "Синхротронные и нейтронные методы исследования конденсированных фаз", а также на интернет-сайтах. Сборник представляет интерес для научно-технических работников, преподавателей, аспирантов и студентов химико-технологических вузов.
|
48. Физические основы и практика радиационного неразрушающего контроля / С. В. Шаблов, Е. И. Косарина, Н. А. Михайлова, А. А. Демидов. - Москва : Спектр, 2023. - 165 с. : ил. - 1500 экз. - ISBN 978-5-4442-0173-2 : 260 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: Содержит краткое описание физических основ радиографического контроля, используемых технических средств и материалов, описание видов дефектов. Уделено внимание процессам формирования скрытого изображения в эмульсии радиографической пленки. Приводится более 30 репродукций радиографических снимков с артефактами и объяснением вероятных причин их происхождения, а также рекомендациями по их предотвращению. Представлены алгоритмы физических процессов, расчета параметров и оптимальных режимов, которые обеспечивают формирование и преобразование радиационных изображений с объемом полезной информации, позволяющим определить качество объекта контроля. Приведены примеры последовательности разработки технологии, задачи и контрольные вопросы. В разделе о цифровой радиографии рассмотрены вопросы преобразования, дискретизации, квантования, оцифровки и тестирования дуплексным индикатором цифровых радиационных изображений.
|
49. Филимонов, Виталий Евгеньевич. Рентгенофлуоресцентный анализ : учебное пособие / В. Е. Филимонов, А. В. Мороз ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Поволжский государственный технологический университет. - Йошкар-Ола : ПГТУ, 2023. - 67 с. : ил. - Библиогр.: с. 67 (7 назв.). - 100 экз. - ISBN 978-5-8158-2327-3 : 100 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: Изложены теоретические сведения, касающиеся основ теории рентгенофлуоресцентного анализа. Систематизирована информация о прикладном проведении исследований в области рентгенофлуоресцентного анализа мишеней магнетронов, предназначенных для получения тонкопленочных покрытий. Отражены особенности работы рентгенофлуоресцентного спектрометра Х-МЕТ 5100. Даны рекомендации по практическому исследованию элементного состава мишеней магнетронов методом рентгенофлуоресцентного анализа.
|
![]() 50. Хейкер, Даниэль Моисеевич. Рентгеновская дифрактометрия / Д. М. Хейкер, Л. С. Зевин ; под редакцией проф. Г. С. Жданова. - Москва : Гос. изд-во физ.-мат. литературы, 1963. - 380 с. : ил. - (Физико-математическая библиотека инженера). - Библиогр.: с. 370-380 (48 назв.). - 8000 экз.Б. ц. - Текст : непосредственный. Аннотация: Систематически изложены вопросы дифрактометрии, рассказано об устройстве дифрактометров и методике работы с ними, о методах исследования различных материалов. Книга рассчитана на инженеров и научных работников рентгеновских лабораторий научно-исследовательских институтов и промышленных предприятий, а также может быть полезна студентам старших курсов вузов, аспирантам, специализирующимся по рентгеноструктурному анализу, металлофизике, методом исследования различных материалов.
|
51. Химич, Маргарита Андреевна. Введение в рентгеноструктурный анализ : учебное пособие / М. А. Химич ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Национальный исследовательский Томский государственный университет. - Томск : Изд-во Томского гос. ун-та, 2022. - 87 с. : ил. - Библиогр.: с. 86-87 (42 назв.). - 50 экз. - ISBN 978-5-907572-78-2 : 150 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: Учебное пособие посвящено описанию основ рентгеноструктурного анализа. Целью автора было максимально лаконично и доступно охарактеризовать физические основы рентгеноструктурного анализа и его отдельные методы, которые могут быть использованы при решении практических научно-исследовательских и инженерно-технических задач. Представленный материал может быть полезен тем, кому необходимо понимать, как рентгеновское излучение взаимодействует с веществом, какие методы рентгеноструктурного анализа существуют и какие подходы можно применять в том или ином случае для решения поставленных задач. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению "Прикладная механика" и смежным направлениям. Пособие может быть использовано студентами физико-технического, физического, химического, радиофизического факультетов по направлениям "Радиофизика", "Оптотехника", "Физика", "Химия", "Фундаментальная и прикладная химия", а также преподавателями при разработке курсов лекций и практических занятий.
|
52. Цифровые технологии в рентгеновском неразрушающем контроле : учебное пособие / Е. И. Косарина, Н. А. Михайлова, А. А. Демидов [и др.] ; под общей редакцией Е. Н. Каблова ; Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт", НИЦ "Курчатовский институт" - ВИАМ. - Москва : НИЦ "Курчатовский институт" - ВИАМ, 2023. - 315 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - 500 экз. - ISBN 978-5-905217-87-6 : 400 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: В учебном пособии содержатся результаты теоретических исследований в области цифровизации двухмерных сигналов и описание экспериментов по опробованию цифровых детекторных систем, средств компьютерной радиографии с применением запоминающих пластин, оцифровки радиографических снимков и вычислительной рентгеновской томографии. Объектами исследования были узлы и детали авиационной техники. Объем теоретических и экспериментальных исследований позволил разработать технологии цифровой радиографии и томографии для отдельных объектов авиационной техники. Издание рекомендовано в качестве учебного пособия для специалистов по радиационному контролю в промышленности, а также для студентов и аспирантов, изучающих основы неразрушающего контроля.
|
![]() 53. Юдин, Михаил Федорович. Методы и аппаратура для градуировки дозиметрических приборов / М. Ф. Юдин. - Москва : Гос. изд-во стандартов, 1962. - 117, [1] с. : ил. - Библиогр.: с. 116-117 (48 назв.). - 3000 экз.Б. ц. - Текст : непосредственный. Аннотация: Приведены сведения об основных процессах взаимодействия электромагнитного ионизирующего излучения с веществом, изложены условия, необходимые для обеспечения единства измерений в области дозиметрии рентгеновского и гамма-излучений. Описаны методы и аппаратура, рекомендуемые и используемые в дозиметрии для передачи размера рентгена от эталонов к образцовым и рабочим рентгенметрам и гамма-излучателям, и поверочная схема, регламентирующая порядок передачи.
|
54. Юрченко, Александр Николаевич. Рентгенография металлов : учебное пособие / А. Н. Юрченко ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Пермский национальный исследовательский политехнический университет. - Пермь : Изд-во Пермского нац. исслед. политехнического ун-та, 2023. - 72 с. : ил. - Библиогр.: с. 70-72 (27 назв.). - 27 экз. - ISBN 978-5-398-02991-8 : 150 р. - Текст (визуальный) : непосредственный. Аннотация: Пособие содержит конспект лекций, в которых представлена информация об основах рентгенографии металлов и рентгеноструктурного анализа, методах исследования структуры с помощью рентгеновского излучения, факторах, влияющих на интенсивность рентгеновских отражений. Изложены особенности определения остаточных напряжений, а также особенности рентгеновской дефектоскопии и конструкций рентгеновских дефектоскопов. Описаны возможности высокотемпературной рентгенографии, рентгенофлуоресцентного спектрального анализа и рентгеновской компьютерной томографии. Предназначено для студентов, изучающих курс "Рентгенография металлов".
|
![]() 55. Яловега, Галина Эдуардовна. Рентгеноспектральные методы исследования материалов на основе синхротронного излучения : Учебное пособие / Г. Э. Яловега, М. И. Мазурицкий, А. Т. Козаков, В. А. Шматко, М. А. Кременная. - Ростов-на-Дону : Издательство Южного федерального университета (ЮФУ), 2019. - 146 с. - ISBN 978-5-9275-3202-5 : Б. ц. Аннотация: Учебное пособие содержит изложение материала входящего в учебную программу курсов «Специальный физический практикум» «Физика рентгеновских лучей» «Синхротронное излучение в исследовании материалов» изучаемых студентами специальностей «Физика конденсированного состояния» «Физика» «Физика химия и технология функциональных материалов» физического факультета и НИИ физики Южного федерального университета. Содержит контрольные вопросы и проектные задания. Предназначено для студентов которые обучаются по программам бакалавриата и магистратуры в области физики конденсированного состояния материаловедения нанотехнологий. Создано при поддержке Южного федерального университета (ВнГр-07/2017-30). |













