• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Ж2-17/63773
    620.17/П 162
    Панин, С. В. Анализ изображений в оптическом методе оценки деформации : [монография] / С. В. Панин, П. С. Любутин, В. В. Титков ; отв. ред. А. А. Светлаков ; Российская академия наук, Сибирское отделение. Институт физики прочности и материаловедения. - Новосибирск : Изд-во Сиб. отд-ния Рос. акад. наук, 2017. - 287 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - 300 экз. - ISBN 978-5-7692-1545-2 : 260 р. - Текст : непосредственный.
    ГРНТИ УДК
    81.09.81620.171.5

    Рубрики:
    Деформации -- Методы исследования

    Доп. точки доступа:
    Любутин, П.С.
    Титков, В.В.
    Светлаков, А.А.\ред.\
    Институт физики прочности и материаловедения (Томск)
    Экз-ры полностью Ж2-17/63773
    Имеются экземпляры в отделах: всего 3 : ПНТ (1), ХРЦ (1), ФО26 (1)
    Свободны: ПНТ (1), ХРЦ (1), ФО26 (1)



    Заказ фрагмента документа ₽