Полное описание

System-level validation: high-level modeling and directed test generation techniques / M. Chen [et al.]. - New York, NY [etc.] : Springer, 2013. - XVII, 247 p. : ill. - Библиогр. в конце глав. Указ.: с. 243-247. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
47.01.81	621.3.049.771.14-048.24

Рубрики:
Системы на кристалле -- Тестирование

Доп. точки доступа:
Chen, M.
Qin, X.
Koo, H.-M.
Mishra, P.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/28824)

Шифр в сводном ЭК: 7a0aadafc91e81f2d975fbe8d17ae971

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽