Полное описание

Еханин, С. Г. Дефектообразование, ударная ионизация и электрическая прочность микронных слоев щелочно-галоидных кристаллов : автореф. дис. ... д-ра физ.-мат. наук: 01.04.07 / С. Г. Еханин. - Томск, 2002. - 43 с. : ил. - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с. 42-43(25 назв.)

ГРНТИ	УДК
31.15.17	548.4(043)
29.19.33	537.226.7(043)

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар03-5751)

Шифр в сводном ЭК: 4c4fb3e0214b99580855b6e9fa488130

Заказать издание
Заказ фрагмента документа