Электронный каталог

    страница из
    всего найдено записей: 1,
      отображать

    new quantitative anomalous X-ray scattering method for the structural analysis of amorphous thin films / E.Matsubara,Y.Waseda,M.Mitera,T.Masumoto, 1989. - 704 p. - Текст : непосредственный.