Юнин П.А. Развитие методов вторично-ионной масс-спектрометрии и рентгеновской дифрактометрии для исследования многослойных полупроводниковых гетероструктур : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / П. А. Юнин, 2016. - 20 с. - Текст : непосредственный.