Чжо Ко Вин Применение ионизирующего излучения для ускоренных испытаний на надежность МОП интегральных микросхем : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / Чжо Ко Вин, 2013. - 21 с. - Текст : непосредственный.