Приложение
для AndroidПолное описание
Голубятников, И. В. Автоматизированная система обработки графической информации, получаемой при оценке качества изделий микроэлектроники : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.13.01 / И. В. Голубятников. - М. : [б. и.], 1990. - 17 с. - Текст : непосредственный.
В надзаг. : Моск. ин-т электрон. машиностроения. Библиогр.:с. 16-17(8 назв.)
| ГРНТИ | УДК | |
| 47.13.81 | 621.3.049.76:658.562(043) |
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Подготовка тестовых последовательностей, рабочие станции тестирования плат 227Х (версия 8.2) / ВЦП. - 368 c. - Текст : непосредственный.Приготовление наборов тестов на автоматизированных рабочих местах проверки плат 227Х. Процедуры автоматической генерации теста. Раздел 7 / ВЦП. - 354 c. - Текст : непосредственный.Мультиплексный тестер жидких кристаллов / ВЦП. - 26 c. - Текст : непосредственный.Руководство пользователя: эмуляция контактрона для рабочей станции проверки плат 227Х / ВЦП. - 162 c. - Текст : непосредственный.Инструкции по эксплуатации переходника GR 2260-9009 для подключения испытательных стендов типа 2270 к автоматизированному рабочему месту типа 2275 / ВЦП. - 53 c. - Текст : непосредственный.Руководство по эксплуатации преобразователя разводки для внутрисхемного тестирования / ВЦП. - 49 c. - Текст : непосредственный.Руководство по эксплуатации переходников - изделий NN 2260-3365, использующихся при внутрисхемной комплексной проверке электронных блоков и обеспечивающих сопряжение между испытательными стендами 2275 и 2276 / ВЦП. - 41 c. - Текст : непосредственный.Преобразователь контрольного приспособления для внутрисхемных испытаний N 2260-3325 / ВЦП. - 34 c. - Текст : непосредственный.Преобразователь контрольного приспособления для внутрисхемных испытаний NN 2260-3329 и 2260-3526 / ВЦП. - 53 c. - Текст : непосредственный.Переходные приспособления для внутрисхемного контроля печатных плат (каталожные номера 2260-3461 и 2260-3661), дающие возможность использования оснастки с номером 2271 в испытательном стенде с номером 2276 / ВЦП. - 58 c. - Текст : непосредственный.Преобразователи измерительной справки для встроенного тестирования печатных плат / ВЦП. - 64 c. - Текст : непосредственный.Конвертер для устройства тестирования плат / ВЦП. - 34 c. - Текст : непосредственный.Программирование тестов. Рабочие станции тестирования печатных плат 227Х / ВЦП. - 150 c. - Текст : непосредственный.Программируемые рабочие станции для проверок с платой 227Х фирмы ГенРэд. Описания языка испытания (версия 8.2). Гл.6 / ВЦП. - 162 c. - Текст : непосредственный.Программируемые рабочие станции для проведения проверок с платой 227Х фирмы ГенРад: Описание языка испытаний. Версия 8.2 / ВЦП. - 118 c. - Текст : непосредственный.Описание системных операций испытательного стенда 2276. (Система 2276 для испытания электронных схем, собранных на печатных платах) / ВЦП. - 173 c. - Текст : непосредственный.Руководство администратора системы. Рабочие станции контроля плат 227Ч / ВЦП. - 250 с. - Текст : непосредственный.Чурюмов В.А. Интеллектуализация технологий автоматизированного контроля и управления качеством изделий радиоэлектроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук:05.13.07 / В. А. Чурюмов, 1992. - 32 с. - Текст : непосредственный.Тестовые кристаллы / ВЦП. - 15 c. - Текст : непосредственный.Рау Э.И. Локальная диагностика объектов микроэлектроники методами томографии и сканирующей микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук: 01.04.01 / Э. И. Рау, 1993. - 26 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыБжеумихов А.А. Двухканальный метод стоячих рентгеновских волн в исследовании поверхностных слоев монокристаллов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / А. А. Бжеумихов, 1991. - 19 с. - Текст : непосредственный.Меликян О.Г. Теория дифракции рентгеновских лучей на идеальных кристаллах и гетероструктурах в условиях скользящего падения : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / О. Г. Меликян, 1991. - 13 с. - Текст : непосредственный.Гамарц Е.М. Контроль информативных параметров полупроводниковых пластин и структур в микроэлектронике оптическими методами : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук:01.04.10 / Е. М. Гамарц, 1992. - 32 с. - Текст : непосредственный.Саунин С.А. Методы оптического и микрозондового тестирования поверхности и их применение в микро- и наноэлектронике : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 05.27.01 / С. А. Саунин, 1998. - 25 с. - Текст : непосредственный.Зайцев С.И. Методы зондовой диагностики микроструктур: теория, моделирование и обратные задачи : Диссертация в виде науч. докл. на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук: 05.27.01 / С. И. Зайцев, 2000. - 61 с. - Текст : непосредственный.Антоненко К.И. Голографическая диагностика газофазных процессов микроэлектроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук :05.27.06 / К. И. Антоненко, 2000. - 35 с. - Текст : непосредственный.Шуринов В.А. Автоматизированный интроскопический комплекс на базе методов цифрового рентгенотелевидения и трансмиссионной томографии для технологического контроля изделий из микроэлектроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук :05.11.13 / В. А. Шуринов, 2001. - 18 с. - Текст : непосредственный.Новоселова Е.Г. Исследование поверхностных слоев методом рентгеновской рефлектометрии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук :01.04.07 / Е. Г. Новоселова, 2002. - 19 с. - Текст : непосредственный.Чернышев Н.И. Исследование и разработка методов и средств измерений параметров прецизионных микроэлектронных изделий : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.11.05 / Н. И. Чернышев, 1990. - 19 с. - Текст : непосредственный.Голубятников И.В. Автоматизированная система обработки графической информации, получаемой при оценке качества изделий микроэлектроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.13.01 / И. В. Голубятников, 1990. - 17 с. - Текст : непосредственный.Афанасьева С.М. Разработка рентгеновских методов скользящей Брэгг-Лауэ дифрактометрии для диагностики материалов микроэлектроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.27.06 / С. М. Афанасьева, 1990. - 17 с. - Текст : непосредственный.Савин В.О. Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук : 01.04.01 / В. О. Савин, 2002. - 15 с. - Текст : непосредственный.Баранов А.М. Основы теории непрерывного технологического контроля параметров нанокомпозитных структур в технологии ионно-плазменных процессов : автореф. дис. .. д-ра техн. наук : 05.27.01 / А. М. Баранов, 2003. - 34 с. - Текст : непосредственный.Петров А.Ю. Оптимизация планов контроля при статистическом управлении технологическими процессами резистивных структур узлов приборов : автореф. дис. .. канд. техн. наук : 05.11.14 / А. Ю. Петров, 2004. - 21 с. - Текст : непосредственный.Нелинейно-оптическая диагностика материалов микроэлектроники : автореф. дис. .. д-ра физ.-мат. наук : 05.27.01 / Е. Д. Мишина, 2004. - 31 с. - Текст : непосредственный.Минкевич А.А. Новые методы теоретического анализа спектров рентгеновской рефлектометрии и дифрактометрии наноструктур : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук : 01.04.02 / А.А. Минкевич, 2004. - 21 с. - Текст : непосредственный.Сеннов Р.А. Развитие методов микротомографии и определение средней энергии электронов, отраженных от многослойных микроструктур : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук : 05.27.01 / Р.А. Сеннов, 2005. - 25 с. - Текст : непосредственный.Методология повышения эффективности технологических процессов микроэлектронного производства и надежности изделий микроэлектронной техники на базе спецвоздействий : автореф. дис. .. д-ра техн. наук : 05.02.22 / Р. А. Попо, 2006. - 32 с. - Текст : непосредственный.Физико-технические основы субмикрометровой дифрактометрии топологии поверхности, модифицируемой в ионно-плазменных процессах : автореф. дис. .. д-ра техн. наук : 01.04.04 / Н. Л. Истомина, 2006. - 33 с. - Текст : непосредственный.Информационно-экспертная система для комплексной диагностики твердотельных нано- и микроструктур : автореф. дис. .. д-ра техн. наук : 05.13.01 / А. Г. Карпов, 2007. - 30 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыЗаказ фрагмента документа ₽