Приложение
для AndroidПолное описание
Номоконова, Н. Н. Методы анализа и оценки индивидуальных свойств интегральных электронных устройств : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук :05.11.16 / Н. Н. Номоконова. - Владивосток : [б. и.], 2002. - 34 с. : ил. - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с. 30-33(44 назв.)
| ГРНТИ | УДК | |
| 47.14.23 | 621.382.019.3(043) |
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Викторова В.С. Исследование надежности отказоустойчивых вычислительных систем с учетом специальных процедур обработки сбоев : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.13 / В. С. Викторова, 1994. - 28 с. - Текст : непосредственный.Ширшиков А.С. Построение отказоустойчивых управляющих систем на основе иерархической декомпозиции схем алгоритмов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук:05.13.13 / А. С. Ширшиков, 1993. - 15 с. - Текст : непосредственный.Панюшкин Н.Н. Разработка подсистемы анализа биполярных ИС в условиях внешних воздействующих факторов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.12 / Н. Н. Панюшкин, 1993. - 17 с. - Текст : непосредственный.Михайлов А.Г. Исследование и разработка отказоустойчивых элементов и узлов информационных систем на основе методов структурной схемотехники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.05 / А. Г. Михайлов, 1996. - 22 с. - Текст : непосредственный.Строгонов А.В. Прогнозирование долговечности кремниевых биполярных интегральных схем по параметрическим отказам : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.27.01 / А. В. Строгонов, 1997. - 15 с. - Текст : непосредственный.Акулинин С.А. Деградационные процессы в тонкопленочных компонентах интегральных схем и их влияние на качество и надежность : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук:05.27.01 / С. А. Акулинин, 1999. - 30 с. - Текст : непосредственный.Савченко В.П. Методы и модели исследования остаточного ресурса изделий радиоэлектронной техники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук: 05.12.13 / В. П. Савченко, 1999. - 35 с. - Текст : непосредственный.Номоконова Н.Н. Методы анализа и оценки индивидуальных свойств интегральных электронных устройств : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук :05.11.16 / Н. Н. Номоконова, 2002. - 34 с. - Текст : непосредственный.Мандзий Б.А. Методы и средства повышения эффективности процедур схемотехнического проектирования радиоэлектронных устройств в надежностном аспекте : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук: 05.12.13 / Б. А. Мандзий, 1991. - 30 с. - Текст : непосредственный.IEEE Transactions on Reliability / IEEE. - Журнал.Dependable computing for critical applications 2 : 2nd intern.working conf.on dependable computing for critical applications,held in Tucson(Az) on Febr.18-20,1991 / Ed.: J. F. Meyer, R. D. Schlichting, 1992. - XIII,437 p. p. - Текст : непосредственный.Применение автоматизированной системы обеспечения надежности и качества аппаратуры : Учеб.пособие / С.Е.Винниченко,В.В.Паднов,С.В.Засыпкин и др., 1993. - 246 c. - Текст : непосредственный.Вопросы надежности радиоэлектронной аппаратуры : Сб.ст. / Пер. с англ. под ред. И.И.Морозова, 1959. - 187 c. - Текст : непосредственный.Управление качеством и надежностью радиоэлектронных средств на стадиях разработки и изготовления методами Тагути : Материалы для руководящего состава / НИИ экономики и информации по радиоэлектронике, Науч.-произв. об-ние "Взлет", 1993. - 18 c. - Текст : непосредственный.Перегуда А.И. Методы расчета показателей надежности ЭВМ : Учеб. пособие по курсу Надежность, контроль и диагностика ЭВМ / А.И.Перегуда, 1994. - 70 c. - Текст : непосредственный.Pacific Rim international symposium on fault tolerant systems,Sept.26-27,Kawasaki,1991 : Proc. / PRFTS'91, 1991. - 259 p. - Текст : непосредственный.Advances in distributed system reliability / ред.compl. S. Rai, ред.compl. D. P. Agrawal, 1992. - IX,333 p. p. - Текст : непосредственный.The 1992 IEEE workshop on fault-tolerant parallel and distributed systems,July 6-7,1992,Amherst(Ma) : Digest of papers / Workshop on fault-tolerant parallel and distributed systems (1992 ; Amherst,Ma) , 1992. - VIII,233 p. p. - Текст : непосредственный.Chen T. Fault diagnosis and fault tolerance : A systematic approach to special topics / T.Chen, 1992. - 197 p. - Текст : непосредственный.Distributed computing network reliability / ред.compl. S. Rai, ред.compl. D. P. Agrawal, 1990. - IX,347 p. p. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыАндреев В.В. Исследование зарядовой нестабильности МДП-систем в сильных электрических полях и разработка методов контроля : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:01.04.10 / В. В. Андреев, 1994. - 16 с. - Текст : непосредственный.Номоконова Н.Н. Методы анализа и оценки индивидуальных свойств интегральных электронных устройств : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук :05.11.16 / Н. Н. Номоконова, 2002. - 34 с. - Текст : непосредственный.Адамян А.Г. Диагностические методы оценки надежности полупроводниковых изделий с использованием электростатических разрядов : автореф. дис. .. канд. техн. наук : 05.27.01 / А. Г. Адамян, 2003. - 16 с. - Текст : непосредственный.Scharf S. Degradation von MOS-Bauelementen durch optische Generation von Ladungstragern : Diss. / S.Scharf, 1995. - 125 p. - Текст : непосредственный.Прогнозирование деградации электрических параметров полупроводниковых изделий : автореф. дис. .. канд. техн. наук : 05.27.01 / А. В. Арсентьев, 2012. - 16 с. - Текст : непосредственный.
Заказ фрагмента документа ₽