Приложение
для AndroidПолное описание
Титков, И. Е. Неразрушающая диагностика электронных свойств структур на основе SiC и GaAs/AlGaAs : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук :01.04.10 / И. Е. Титков. - СПб. : [б. и.], 2001. - 16 с. : ил. - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с. 16(11 назв.)
| ГРНТИ | УДК | |
| 47.33 | 621.315.592.9:620.179(043) | |
| 81.09.81 |
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Контактное сопротивление в системах YBa2Cu307-b-пленка металла / ВЦП. - 12 с. - Текст : непосредственный.Нитрид алюминия и область его применения / ЦНИИТЭСТРОЙМАШ. - 14 с. - Текст : непосредственный.НАСА: система томографии с использованием вычислительной техники / ВЦП. - 11 с. - Текст : непосредственный.Современное состояние неразрушающего контроля участков соединения композиционных материалов / ВЦП. - 24 с. - Текст : непосредственный.Современное состояние в области сканеров для промышленной рентгеновской компьютерной томографии / ВЦП. - 13 с. - Текст : непосредственный.Схема разработки топологии СБИС / ВЦП МР. - 17 с. - Текст : непосредственный.Многополюсная модель схемы для оценок потери излучения и паразитной связи между нарушениями непрерывности в микрополосковых церях / ВЦП КР. - 16 с. - Текст : непосредственный.Анализ статической и динамической твердости с помощью сферического вдавливания / Ин-т сверхтвердых материалов. - 7 с. - Текст : непосредственный.Плюсы и минусы полифенилхининоксалина (ПФХ) / ВЦП. - 11 c. - Текст : непосредственный.Современный уровень развития в области неразрушающих методов контроля свойств и повреждения в подповерхностных слоях материала / Ин-т сверхтвердых материалов. - 38 c. - Текст : непосредственный.Исследования в области ИС ЗУ различных видов и поколений. Выбор ИС при проектировании систем и указания по их применению. Ч.3,4 / ВЦП. - 107 c. - Текст : непосредственный.Технические данные / ВЦП. - 48 c. - Текст : непосредственный.Мультиплексный тестер жидких кристаллов / ВЦП. - 26 c. - Текст : непосредственный.Семь ключевых защитных модулей фирмы MTL Inc. для обеспечения собственной безопасности электронных устройств / ВЦП. - 26 c. - Текст : непосредственный.Испытательная установка модели 6025 и 6027 для тестирования прочности материалов на растяжение и сжатие : Руководство пользователя / ВЦП. - 35 c. - Текст : непосредственный.Фиксаторный конвертер для внутрисхемного тестирования плат р/п 2260-3360 и -3560. Фиксаторы 2270 и 2276 к рабочей станции по проверке плат / ВЦП. - 52 c. - Текст : непосредственный.Преобразователь контрольного приспособления для внутрисхемных испытаний N 2260-3315 / ВЦП. - 36 c. - Текст : непосредственный.Преобразователь контрольного приспособления для внутрисхемных испытаний N 2260-3325 / ВЦП. - 34 c. - Текст : непосредственный.Преобразователь контрольного приспособления для внутрисхемных испытаний NN 2260-3329 и 2260-3526 / ВЦП. - 53 c. - Текст : непосредственный.Конвертер для устройства тестирования плат / ВЦП. - 34 c. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыЧарный Л.А. Особенности микродефектов в арсениде галлия,выявленные методом диффузного рассеяния рентгеновских лучей : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.10 / Л. А. Чарный, 1992. - 25 с. - Текст : непосредственный.Уваров Е.И. Разработка неразрушающих автоматизированных методов исследования полупроводников и полупроводниковых структур : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 01.04.10 / Е. И. Уваров, 1997. - 15 с. - Текст : непосредственный.Титков И.Е. Неразрушающая диагностика электронных свойств структур на основе SiC и GaAs/AlGaAs : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук :01.04.10 / И. Е. Титков, 2001. - 16 с. - Текст : непосредственный.Корнилович А.А. Разработка неразрушающих методов исследования полупроводников и низкоразмерных полупроводниковых структур : автореф. дис. .. д-ра техн. наук : 01.04.10 / А. А. Корнилович, 2002. - 38 с. - Текст : непосредственный.Королев С.А. Микроволновая микроскопия полупроводниковых структур : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук : 01.04.01 / С. А. Королев, 2018. - 23 с.Дедкова, Анна Александровна. Комплекс методик для оптического исследования рельефа и механических характеристик тонкопленочных структур : 2.2.8. - Методы и приборы контроля и диагностики материалов, изделий, веществ и природной среды : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Дедкова Анна Александровна, 2022. - 24 с. - Текст : непосредственный.
Заказ фрагмента документа ₽