Полное описание
>
Технологическое моделирование фрагмента ИМС : метод. указ. к курсовой работе по дисциплине "Спец. вопросы технол. интегр. микросхем". - СПб. : СПбГЭТУ "ЛЭТИ", 2014. - 28 с. : ил. - (Методические указания). - Библиогр.: с. 24-25 (26 назв.). - 37 экз. - Б. ц. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: С.-Петерб. гос. электротехн. ун-т "ЛЭТИ"
| ГРНТИ | УДК | |
| 47.33.31 | 621.3.049.77-047.58(076.5) |
Рубрики:
Интегральные схемы -- Моделирование -- Учебники и пособия
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Технологическое моделирование фрагмента ИМС : метод. указ. к курсовой работе по дисциплине "Спец. вопросы технол. интегр. микросхем", 2014. - 28 с.Демидов, Анатолий Семёнович. Методические указания к учебно-исследовательской работе студентов "Конструкция воздушно-реактивных двигателей и их основных узлов" / автор-составитель А. С. Демидов, 2020. - 32 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.ГРНТИ. Государственный рубрикатор научно-технической информации / Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Государственная публичная научно-техническая библиотека России, Технический комитет по стандартизации "Научно-техническая информация, библиотечное и издательское дело" (ТК 191), 2022. - 168, [1] с. (Введено оглавление). - Текст (визуальный) : непосредственный.ГРНТИ. Государственный рубрикатор научно-технической информации : версия 2022 г. / Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Государственная публичная научно-техническая библиотека России, Технический комитет по стандартизации "Научно-техническая информация, библиотечное и издательское дело, управление документами" (ТК 191), 2023. - 166, [1] с. (Введено оглавление). - Текст (визуальный) : непосредственный.ГРНТИ. Государственный рубрикатор научно-технической информации / Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Государственная публичная научно-техническая библиотека России, Технический комитет по стандартизации "Научно-техническая информация, библиотечное и издательское дело" (ТК 191), 2022. - 168, [1] с. (Введено оглавление). - Текст : электронный.ГРНТИ. Государственный рубрикатор научно-технической информации : версия 2022 г. / Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Государственная публичная научно-техническая библиотека России, Технический комитет по стандартизации "Научно-техническая информация, библиотечное и издательское дело, управление документами" (ТК 191), 2023. - 166, [1] с. (Введено оглавление). - Текст : электронный.Батанов, Михаил Семенович. Определение погрешностей технических измерений : методические указания к практическим занятиям / М. С. Батанов, А. Ю. Бурова, 2024. - 107, [1] с. - Текст (визуальный) : непосредственный.Общие принципы конструирования РЭС : методические указания к практическим занятиям / Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Московский авиационный институт (национальный исследовательский университет), 2025. - 63, [1] с. - Текст (визуальный) : непосредственный.ГРНТИ. Государственный рубрикатор научно-технической информации : версия 2025 г. / Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Государственная публичная научно-техническая библиотека России, Технический комитет по стандартизации "Научно-техническая информация, библиотечное и издательское дело, управление документами" (ТК 191), 2025. - 217, [1] с. (Введено оглавление). - Текст : непосредственный.
Нитрид алюминия и область его применения / ЦНИИТЭСТРОЙМАШ. - 14 с. - Текст : непосредственный.Схема разработки топологии СБИС / ВЦП МР. - 17 с. - Текст : непосредственный.Многополюсная модель схемы для оценок потери излучения и паразитной связи между нарушениями непрерывности в микрополосковых церях / ВЦП КР. - 16 с. - Текст : непосредственный.Плюсы и минусы полифенилхининоксалина (ПФХ) / ВЦП. - 11 c. - Текст : непосредственный.Исследования в области ИС ЗУ различных видов и поколений. Выбор ИС при проектировании систем и указания по их применению. Ч.3,4 / ВЦП. - 107 c. - Текст : непосредственный.Технические данные / ВЦП. - 48 c. - Текст : непосредственный.Левицкий Д.О. Методы логико-динамического и логико-структурного диагностирования матричных КМОП БИС : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.12 / Д. О. Левицкий, 1991. - 25 с. - Текст : непосредственный.Ефанов В.А. Организация процесса трассировки матричных БИС и СБИС : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.13:05.13.12 / В. А. Ефанов, 1991. - 22 с. - Текст : непосредственный.Исюк В.И. Разработка математических и программных средств функционально-логического моделирования и тестирования КМОП БИС : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.16 / В. И. Исюк, 1991. - 19 с. - Текст : непосредственный.Семенов Н.Е. Оптимизация методов проектирования топологии кристаллов с линейчатой структурой : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.12 / Н. Е. Семенов, 1991. - 16 с. - Текст : непосредственный.Шелепин Н.А. Исследование свойств и характеристик структур полупроводник-диэлектрик-полупроводник и разработка конструктивно-технологических методов повышения быстродействия БИС на их основе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.01 / Н. А. Шелепин, 1990. - 32 с. - Текст : непосредственный.Абачев М.К. Исследование формирования глубоких щелей в кремнии при плазмохимическом и реактивном ионном травлении в галогеносодержащих газах : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:05.27.01 / М. К. Абачев, 1990. - 26 с. - Текст : непосредственный.Мануйлов В.В. Моделирование процессов рентгенолитографии интегральных схем с применением синхротронного излучения : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:05.27.01 / В. В. Мануйлов, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный.Сидоренко П.В. Исследование и разработка интегрированной САПР аналоговых БИС на БМК : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.12 / П. В. Сидоренко, 1991. - 16 с. - Текст : непосредственный.Букунов С.В. Моделирование и исследование субмикронных транзисторных структур для монолитных интегральных схем СВЧ : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.01 / С. В. Букунов, 1991. - 16 с. - Текст : непосредственный.Бачурин В.И. Управление параметрами линейных интегральных схем топологией инжекционных структур с использованием САПР : Дис..д-ра техн.наук в форме науч.докл.:05.13.01:05.13.12 / В. И. Бачурин, 1991. - 38 с. - Текст : непосредственный.Романовский П.Г. Оптимизация метода моделируемого отжига при проектировании топологии интегральных схем на параллельной вычислительной системе с динамическим распределением задач : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.12 / П. Г. Романовский, 1991. - 19 с. - Текст : непосредственный.Золотухина О.М. Причины разрушения кремниевых кристаллов БИС после монтажа в металлокерамические корпуса с применением золото-кремниевой эвтектики и их устранение : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.01 / О. М. Золотухина, 1992. - 15 с. - Текст : непосредственный.Гындя С.И. Исследование и разработка способов создания и применения аппаратных ускорителей при моделировании ЦУ БИС : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.12 / С. И. Гындя, 1992. - 18 с. - Текст : непосредственный.Матвеева Н.К. Фото-и электронорезисты на основе полимерных лэнгмюровских пленок.Получение,свойства и применение : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.17.06 / Н. К. Матвеева, 1992. - 16 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыТехнологическое моделирование фрагмента ИМС : метод. указ. к курсовой работе по дисциплине "Спец. вопросы технол. интегр. микросхем", 2014. - 28 с.Плотникова, Екатерина Юрьевна. Моделирование технологических процессов и интегральных микросхем : лабораторный практикум / Е. Ю. Плотникова, А. В. Арсентьев, А. А. Винокуров, 2020. - 95 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.Пивоваров, Игорь Юрьевич. Функциональное моделирование элементов систем : учебно-методическое пособие / И. Ю. Пивоваров, 2023. - 39 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.
Технологическое моделирование фрагмента ИМС : метод. указ. к курсовой работе по дисциплине "Спец. вопросы технол. интегр. микросхем", 2014. - 28 с.Плотникова, Екатерина Юрьевна. Моделирование технологических процессов и интегральных микросхем : лабораторный практикум / Е. Ю. Плотникова, А. В. Арсентьев, А. А. Винокуров, 2020. - 95 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.
Заказ фрагмента документа ₽