Приложение
для AndroidПолное описание
Российская конф. по электронной микроскопии (25; 2014; Черноголовка).
XXV Российская конференция по электронной микроскопии и 2-я Школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов". РКЭМ - 2014 : 2 июня - 6 июня 2014 г. : тез. докл. - Черноголовка : ИПТМ РАН, 2013 - . - Текст : непосредственный.
Т. 1. - 2013. - 348 с. : ил. - Библиогр. в конце отд. ст. - Тираж не указ. - ISBN 978-5-89589-068-4 : Б. ц.
| ГРНТИ | УДК | |
| 29.35.43 | 537.533.35(062) | |
| 81.09.30 | 620.22-022.532(062) |
Рубрики:
Микроскопия электронная -- Съезды и конференции
Наноструктурные материалы -- Методы исследования -- Съезды и конференции
Аннотация: Просвечивающая электронная микроскопия (аналитическая, низковольтная, растровая). Электронная микроскопия в исследовании новых материалов, включая наноструктуры. Электронография и методы электронной дифракции. Электронная оптика и новые приборы, обработка изображений. Растровая электронная микроскопия. Сканирующая зондовая микроскопия.
Доп. точки доступа:
Российская конф. по электронной микроскопии(25 ; 2014 ; Черноголовка)
"Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов", школа молодых ученых(2 ; 2014 ; Черноголовка)
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Растровый туннельный микроскоп с широким растром наблюдения / Ин-т сверхтвердых материалов. - 18 с. - Текст : непосредственный.Давыдов Д.Н. Низкотемпературная сканирующая туннельная микроскопия : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.01 / Д. Н. Давыдов, 1991. - 18 с. - Текст : непосредственный.Лобкис О.И. Дифракционные эффекты и формирование изображения в акустическом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ-мат.наук:01.04.06 / О. И. Лобкис, 1991. - 20 с. - Текст : непосредственный.Стрепетов А.Н. Формирование и регистрация изображения в нейтронном микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.16 / А. Н. Стрепетов, 1991. - 29 с. - Текст : непосредственный.Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.11.07 / В. Б. Рабинович, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный.Тавров А.В. Экспериментальная регистрация субмикронных структур поверхности на компьютерном фазовом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.03 / А. В. Тавров, 1992. - 17 с. - Текст : непосредственный.Гавриков С.И. Электронно-микроскопические исследования окислов с использованием видеозаписи и цифровой обработки изображений : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:01.04.07 / С. И. Гавриков, 1992. - 16 с. - Текст : непосредственный.Стабилизатор луча 35-BST : Инструкции / ВЦП. - 13 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл.5. Работа на приборе / ВЦП. - 194 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл. 6. Обслуживание / ВЦП. - 206 c. - Текст : непосредственный.Система "МГВ АУТОМАТИК" : Информация по техн.обслуживанию / ВЦП. - 119 c. - Текст : непосредственный.Информация по обслуживанию автоматического устройства "MVG Automatik" / ВЦП. - 193 c. - Текст : непосредственный.Электронный микроскоп модель JEM-2000EX/FX : Спецификация деталей / ВЦП.Киев.ред. - 63 c. - Текст : непосредственный.Антонов А.П. Исследование и разработка методов,алгоритмов и устройств управления съемом и предварительной обработки информации в сканирующем туннельном микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.05 / А. П. Антонов, 1996. - 17 с. - Текст : непосредственный.Селектор изображений ИМС / ТПП Москвы. - 4 c. - Текст : непосредственный.Техника контроля и измерений с помощью электронных лучей / ТПП БССР. - 29 c. - Текст : непосредственный.Литвинов В.Л. Исследование и разработка методов и алгоритмов предварительной обработки изображений в задачах электронной микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.01 / В. Л. Литвинов, 1997. - 16 с. - Текст : непосредственный.Рехвиашвили С.Ш. Силовые взаимодействия и зонды в атомно-силовом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук:01.04.07 / С. Ш. Рехвиашвили, 1999. - 19 с. - Текст : непосредственный.Горбенко О.М. Автосигнализация отражений твердотельных наноструктур и биологических клеток в сканирующей зондовой и световой оптической микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.01 / О. М. Горбенко, 2000. - 18 с. - Текст : непосредственный.Мурясов Р.Р. Вопросы теории туннелирования электронов в СТМ : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.17 / Р. Р. Мурясов, 2000. - 20 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыScanning tunneling microscopy.Quantum dot structures : Papers presented at the 4th Intern.colloquium on scanning tunneling microscopy,Kanazawa,Dec.12-14,1996 / ed. S. Hosoki, 1997. - Pag.var. - Текст : непосредственный.Solid state phenomena. Vol. 119 : Nanocomposites and nanoporous materials : proc. of the 7th Intern. symp. on nanocomposites and nanoporous materials (ISNAM7), Feb. 15-17, 2006, Gyeongju, Korea / International symposium on nanocomposites and nanoporous materials (ISNAM7) (7th; 2006; Gyeongju), 2007. - XII, 334 p. - Текст : непосредственный.Solid state phenomena. Vol. 135 : Nanocomposites and nanoporous materials VIII : sel., peer rev. papers from the 8th Intern. symp. on nanocomposites and nanoporous materials (ISNNM8), Feb. 22-24, 2007, Jeju, Korea / International symposium on nanocomposites and nanoporous materials (ISNNM8) (8th; 2007; Jeju), 2008. - X, 158 p. - Текст : непосредственный.НАНО 2009 : третья Всерос. конф. по наноматериалам, Екатеринбург, 20-24 апр. 2009 г.:тез. докл., 2009. - 901 с. - Текст : непосредственный.Синтез, свойства и применение графенов и слоистых наносистем : материалы Междунар. науч. семинара, г. Астрахань, 15-16 сент. 2011 г., 2011. - 71 с. - Текст : непосредственный.Перспективные материалы : журн.: спец. вып. Вып. 12(2011) : Ультрамелкозернистые и наноструктурные материалы : материалы открытой шк.-конф. стран СНГ, Уфа, 11-15 окт. 2010 г., 2011. - 584 с. - Текст : непосредственный.XXV Российская конференция по электронной микроскопии и 2-я Школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов". РКЭМ - 2014 : 2 июня - 6 июня 2014 г. : тез. докл. Т. 2, 2014. - 662 с.XXV Российская конференция по электронной микроскопии и 2-я Школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов". РКЭМ - 2014 : 2 июня - 6 июня 2014 г. : тез. докл. Т. 1, 2013. - 348 с.Наноматериалы и технологии - V : сб. тр. 5-й Всерос. науч.-практ. конф. с междунар. участием, 27-30 авг. 2014 г., Улан-Удэ / Бурят. гос. ун-т [и др.], 2014. - 300 с.Труды VIII Всероссийской школы-семинара студентов, аспирантов и молодых ученых по направлению "Диагностика наноматериалов и наноструктур" : 14-18 сент. 2015 г., Рязань. Т. 1, 2015. - 112 с.Труды VIII Всероссийской школы-семинара студентов, аспирантов и молодых ученых по направлению "Диагностика наноматериалов и наноструктур" : 14-18 сент. 2015 г., Рязань. Т. 2, 2015. - 132 с.Труды VIII Всероссийской школы-семинара студентов, аспирантов и молодых ученых по направлению "Диагностика наноматериалов и наноструктур" : 14-18 сент. 2015 г., Рязань. Т. 3, 2015. - 276 с.XXVI Российская конференция по электронной микроскопии и 4-я Школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов" : в рамках Междунар. форума "Техноюнити - РКЭМ - 2016", г. Москва Зеленоград, 30 мая - 3 июня 2016 г. : тез. докл. Т. 2, 2016. - XVIII, с. 379-764 с.XXVI Российская конференция по электронной микроскопии и 4-я Школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов" : в рамках Междунар. форума "Техноюнити - РКЭМ - 2016", г. Москва Зеленоград, 30 мая - 3 июня 2016 г. : тез. докл. Т. 1, 2016. - XVIII,387 с.Научная конференция "Неорганическая химия - фундаментальная основа в материаловедении керамических, стеклообразных и композиционных материалов" : посвящ. 80-летию Ин-та химии силикатов им. И. В. Гребенщикова РАН, 4-5 марта 2016 г., Санкт-Петербург : материалы конф. / Отд-ние химии и наук о материалах Рос. акад. наук [и др.], 2016. - 255 с.Передовые материалы - 2016: синтез, обработка и свойства наноструктур : материалы рос.-яп. конф., 30 окт.- 3 нояб. 2016 г., Новосибирск / Новосиб. нац. исслед. гос. ун-т [и др.], 2016. - 152 с.Наноматериалы и технологии - VI : тр. VI Междунар. конф. "Наноматериалы и технологии", V Междунар. конф. по материаловедению и II Междунар. конф. по функцион. материалам, 22-26 авг. 2016 г., Улан-Удэ / Бурятский гос. ун-т (Улан-Удэ), 2016. - 276 с. - Текст : непосредственный.Наноматериалы и технологии : тр. Междунар. молодеж. шк.-семинара по соврем. проблемам материаловедения, 22-26 авг. 2016 г., Улан-Удэ / Бурятский гос. ун-т (Улан-Удэ), 2016. - 187 с.Наноматериалы: новые методы синтеза : междунар. конф., 16-18 мая 2017 г., Москва, Россия : тр. конф. / Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, 2017. - 96 с.Мезоскопические структуры в фундаментальных и прикладных исследованиях : IV междунар. конф., 5-9 июля 2017 г., отель "Байкал", пос. Листвянка : сб. докл., 2017. - 62 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыЗаказ фрагмента документа ₽