• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Ар12-23109
    Криницкий, А. В. Методы и средства оценки и прогнозирования сбоеустойчивости аналоговых интегральных микросхем при воздействии отдельных ядерных частиц : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.05 / А. В. Криницкий. - М. : [б. и.], 2012. - 26 с. : ил. - Библиогр.: с. 25-26 (11 назв.). - Текст : непосредственный.
    ГРНТИ УДК
    47.33.31621.3.049.77:539.16(043)

    Кл.слова (ненормированные): аналоговые интегральные схемы -- влияние ионизирующих излученийЭкз-ры полностью Ар12-23109
    Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
    Свободны: ХРЦ (1)



    Заказ фрагмента документа ₽