Приложение
для AndroidПолное описание
Фульц, Б. Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов / Б. Фульц, Д. М. Хау; пер. с англ. В. И. Даниленко; под ред. А. В. Мохова. - М. : Техносфера, 2011 (Казань). - 903 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 805-820 и в конце разд. прил. Предм. указ.: с. 883-903. - 3000 экз. - ISBN 978-5-94836-291-5 : Б. ц. - Текст : непосредственный.
| ГРНТИ | УДК | |
| 29.35.43 | 620.22:620.187 |
Рубрики:
Материалы -- Микроскопический метод исследования
Доп. точки доступа:
Хау, Д.М.
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Техническая оптика : пер. с нем. / Г. Шредер, Х. Трайбер, 2006. - 423 с. - Текст : непосредственный.Брайдерт Г.-Й. Проектирование холодильных установок. Расчеты, параметры, примеры / Г. -Й. Брайдерт, 2006. - 335 с. - Текст : непосредственный.Балдев Р. Применения ультразвука : Пер. с англ. / Р. Балдев, В. Раджендран, П. Паланичами, 2006. - 575 с. - Текст : непосредственный.Шмидт В. Оптическая спектроскопия для химиков и биологов / В. Шмидт; пер. с англ. Н. П. Ивановской; под ред. С. В. Савилова, 2007. - 367 с. - Текст : непосредственный.Основы ЯМР / Б. Блюмих; пер. с англ. Н.Е.Агаповой, 2007. - 152 с. - Текст : непосредственный.Физика твердого тела для инженеров : Учеб. пособие / В. А. Гуртов, Р. Н. Осауленко; науч. ред. Л. А. Алешина, 2007. - 518 с. - Текст : непосредственный.Лазеры. Исполнение, управление, применение : пер. с нем. / Ю. Айхлер, Г.-И. Айхлер, 2008. - 438 с. - Текст : непосредственный.Доссат Р.Д. Основы холодильной техники / Р. Д. Доссат, Т. Д. Хоран; пер. с англ. С. В. Аникина; под ред. Л. Г. Каплана, 2008. - 821 с. - Текст : непосредственный.Справочник инженера-механика : пер. с англ. / Р.Л. Тимингс; под ред. И.Ю. Шкадиной, 2008. - 629 с. - Текст : непосредственный.Зализняк, В. Е. Основы вычислительной физики : Учеб пособие. Ч. 1 : Введение в конечно-разностные методы, 2008. - 223 с. - Текст : непосредственный.Справочник по физике. Формулы, таблицы, схемы : пер с нем. / Под ред. Х. Штекера, 2009. - 1263 с. - Текст : непосредственный.Мир физики и техники : учебник по общей электротехнике / Г. Шатенье [и др.]; пер. с фр. В. Н. Грасевича, 2009. - 623 с. - Текст : непосредственный.Лазерно-искровая эмиссионная спектроскопия / Д. Кремерс, Л. Радзиемски: пер. с англ. А. А. Горбатенко и др.; под общ. ред. Н. Б. Зорова, 2009. - 358 с. - Текст : непосредственный.Эгертон Р.Ф. Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию / Р. Ф. Эгертон; пер. с англ. С. А. Иванова, 2010. - 300 с. - Текст : непосредственный.Патентование изобретений в области высоких и нанотехнологий / Д. Ю. Соколов, 2010. - 135 с. - Текст : непосредственный.Блюмих Б. Основы ЯМР : для ученых и инженеров / Б. Блюмих; пер. с англ. П. А. Белякова; под ред. В. П. Ананикова, 2011. - 252 с. - Текст : непосредственный.Компрессоры. Современное применение / Х. П. Блох ; пер. с англ. Л. Н. Кодомского ; под ред. Т. С. Дегятревой, А. А. Курганова, 2011. - 344, 15 с. - Текст : непосредственный.Промышленное применение аккумуляторных батарей. От автомобилей до авиакосмической промышленности и накопителей энергии : [сборник] / под ред. М. Бруссили, Д. Пистойя ; пер. с англ. Н. Г. Максимовой ; под ред. И. В. Кокоревой, 2011. - 782 с. - Текст : непосредственный.Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов / Б. Фульц, Д. М. Хау; пер. с англ. В. И. Даниленко; под ред. А. В. Мохова, 2011. - 903 с. - Текст : непосредственный.Успехи наноинженерии: электроника, материалы, структуры / Под ред. Дж. Дэвиса, М. Томпсона: пер. с англ. А. Е. Грахова; под ред. П. П. Мальцева, 2011. - 512 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыРастровый туннельный микроскоп с широким растром наблюдения / Ин-т сверхтвердых материалов. - 18 с. - Текст : непосредственный.Давыдов Д.Н. Низкотемпературная сканирующая туннельная микроскопия : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.01 / Д. Н. Давыдов, 1991. - 18 с. - Текст : непосредственный.Лобкис О.И. Дифракционные эффекты и формирование изображения в акустическом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ-мат.наук:01.04.06 / О. И. Лобкис, 1991. - 20 с. - Текст : непосредственный.Стрепетов А.Н. Формирование и регистрация изображения в нейтронном микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.16 / А. Н. Стрепетов, 1991. - 29 с. - Текст : непосредственный.Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.11.07 / В. Б. Рабинович, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный.Тавров А.В. Экспериментальная регистрация субмикронных структур поверхности на компьютерном фазовом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.03 / А. В. Тавров, 1992. - 17 с. - Текст : непосредственный.Гавриков С.И. Электронно-микроскопические исследования окислов с использованием видеозаписи и цифровой обработки изображений : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:01.04.07 / С. И. Гавриков, 1992. - 16 с. - Текст : непосредственный.Стабилизатор луча 35-BST : Инструкции / ВЦП. - 13 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл.5. Работа на приборе / ВЦП. - 194 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл. 6. Обслуживание / ВЦП. - 206 c. - Текст : непосредственный.Система "МГВ АУТОМАТИК" : Информация по техн.обслуживанию / ВЦП. - 119 c. - Текст : непосредственный.Информация по обслуживанию автоматического устройства "MVG Automatik" / ВЦП. - 193 c. - Текст : непосредственный.Электронный микроскоп модель JEM-2000EX/FX : Спецификация деталей / ВЦП.Киев.ред. - 63 c. - Текст : непосредственный.Антонов А.П. Исследование и разработка методов,алгоритмов и устройств управления съемом и предварительной обработки информации в сканирующем туннельном микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.05 / А. П. Антонов, 1996. - 17 с. - Текст : непосредственный.Селектор изображений ИМС / ТПП Москвы. - 4 c. - Текст : непосредственный.Техника контроля и измерений с помощью электронных лучей / ТПП БССР. - 29 c. - Текст : непосредственный.Литвинов В.Л. Исследование и разработка методов и алгоритмов предварительной обработки изображений в задачах электронной микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.01 / В. Л. Литвинов, 1997. - 16 с. - Текст : непосредственный.Рехвиашвили С.Ш. Силовые взаимодействия и зонды в атомно-силовом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук:01.04.07 / С. Ш. Рехвиашвили, 1999. - 19 с. - Текст : непосредственный.Горбенко О.М. Автосигнализация отражений твердотельных наноструктур и биологических клеток в сканирующей зондовой и световой оптической микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.01 / О. М. Горбенко, 2000. - 18 с. - Текст : непосредственный.Мурясов Р.Р. Вопросы теории туннелирования электронов в СТМ : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.17 / Р. Р. Мурясов, 2000. - 20 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыAIP conference proceedings. Vol. 999 : Electron microscopy and multiscale modeling : proc. of the EMMM-2007 Intern. conf., Moscow, Russia, 3-7 Sept. 2007 / eds.: A. S. Avilov [et al.], 2008. - VIII, 300 p. - Текст : непосредственный.Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов / Б. Фульц, Д. М. Хау; пер. с англ. В. И. Даниленко; под ред. А. В. Мохова, 2011. - 903 с. - Текст : непосредственный.Dziadur, W. Mikroskopia elektronowa. T. 3 : Praktyczna mikroskopia skaningowa : wybrane zastosowania w inżynierii materiałowej, 2019. - 519 p. - Текст : непосредственный.Черноголовская конференция по электронной микроскопии КЭМ-25 с международным участием, Черноголовка, 16-19 июня 2025 г. : тезисы докладов / Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов Российской академии наук, Акционерное общество "Научно-исследовательский институт молекулярной электроники", 2025. - 221 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.
Заказ фрагмента документа ₽